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Thermo Scientific Velox 软件结合了全面的（扫描）透射电子显微镜（STEM 和 TEM）光学元件和探头操作，以为您提供出色的实验控制。Velox 软件为定量 STEM 和 TEM 材料分析提供高再现性、产量和支持。
Velox 软件提供了独特的软件包，适用于能量色散 X 射线光谱（EDS，也称为 EDX）应用，与 Thermo Scientific Super-X 和 Dual-X 探头系统结合使用。强大的映射引擎结合了多种针对透射电子显微镜检查进行了优化的技术。即时漂移校正、递归映射、独立通道读出、带支架补偿的独特吸收校正：这些技术可确保以高产量采集一流的 EDS 光谱图像。
集成的人体工程学用户界面
使用漂移校正帧积分 (DCFI) 和快速递归映射中的交叉关联等先进的漂移补偿方法实现极致的成像和构合映射质量。此外，Velox 软件还为光谱成像提供漂移补偿，这是专为具有挑战性的 TEM 条件设计的。
交互式探头布局界面
通过交互式探头布局界面和自动存储所有关键元数据，实现最高的再现性和最佳实验控制和多探头工具记录。
时间分辨 XEDS
通过时间分辨 XEDS 和递归映射的"剥离"功能实现动态构合映射来进行逐帧删除，以尽量减少对射束敏感材料进行成分分析时的伪影。
EDS 定量软件
独特、强大的 EDS 定量软件，可补偿任何倾斜角的样品杆遮挡，具有 4 个独立的探头读出器。高速 EDS 定量在采集期间提供实时反馈，以及快速的 EDS 数据后处理。
高对比度成像
采用独特的集成式微分相衬 (iDPC) 模式对轻重元素进行高对比度原子成像。对轻样品进行低剂量高对比度成像，以在自然状态下对射束敏感材料进行成像。
动态检查
适用于动态检查的灵活 STEM 和 TEM 视频录制。
产品表格规范样式表
TEM 成像 | 支持的硬件 | 具有速度增强功能的 Ceta 摄像机 |
像素 | 512、1k、2k、4k、像素组合 2 倍、4 倍、8 倍 | |
STEM 成像 | 支持的硬件 | HAADF 探头、三段式 BF/DF 探头、Panther STEM 探头系统 |
信号数 | 最多 5 个 STEM 信号，或最多 9 个 STEM+EDS 信号 | |
速度 | 50 ns/像素 | |
能量色散 X 射线分析* | 支持的硬件 | SuperX G1/SuperX G2/DualX/SingleX |
多模态 | STEM+EDS、STEM+EDS+EELS 和 STEM+摄像机+EDS | |
系统要求 | 采用 Windows 7 或 Windows 10 64 位操作系统的 Thermo Scientific Talos 和 Themis STEM 和 TEM 平台 | |
* 选配件，仅当相应硬件是色谱柱配置的一部分时功能才可用。
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