Apreo ChemiSEM场发射扫描电镜的主要特点

真正的一体化场发射扫描电镜

赛默飞是一家能够提供全套元素分析、晶体结构软硬件的电镜厂商。Apreo ChemiSEM 标配TrueSight EDS扫描电镜能谱探测器,并且可选配TruePix EBSD背散射衍射直接电子探测器。

性能强劲,上手简单

此场发射扫描电镜镜筒内的三探测器系统 (Trinity)具备亚纳米级别低电压高分辨能力,ChemiSEM技术利用全自动实时定量算法呈现完整的元素成分信息。全新的智能帧积分SFI,自动光路对中,自动聚焦和自动消像散功能让不同经验的用户都能轻松获得高质量数据。

强大的兼容性

10mm的分析工作距离让这款场发射扫描电子显微镜可以兼容所有附件,实现安全有效地工作。足够的接口和样品仓内宽保证了Apreo对将来可能出现的各类可扩展附件与原位设备有极强的兼容性;同时,Apreo可与赛默飞或者任意第三方的光学显微镜,扫描电镜,双束电镜,透射电镜以及拉曼,XPS,EBL等扫描电镜系统联用。

支持中文

本土智造的Apreo ChemiSEM场发射扫描电镜可满足有国产电镜需求的国内用户,而且中文界面和说明书更符合用户习惯,让您更快上手。

Apreo ChemiSEM场发射扫描电镜独特设计

Trinity检测系统的独特设计,搭配样品仓内的探测器可以在更大的能量范围和出射角收集二次电子和背散射电子信号

  • 高真空,15 kV (减速模式)分辨率:0.5 nm*
  • 高真空,1 kV(减速模式)分辨率:0.8 nm*
  • 低真空(80 Pa),15 kV分辨率:1.2 nm^

*ChemiSEM S选配T3探测器和复合电磁末级透镜

^各类型号均可选配低真空模式(10-500 Pa)

Apreo ChemiSEM场发射扫描电镜搭配Trinity检测系统

Apreo ChemiSEM场发射扫描电镜相关资料

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场发射扫描电镜材料成分鉴定分析

Apero ChemiSEM场发射扫描电镜采用 ChemiPhase对钢材中的复合夹杂物进行相分析。ChemiPhase 可有效鉴定各种夹杂物及其成分和面积分数。其还能轻松检测非预期材料,通过单次分析即可提取全面的信息集。

Apero ChemiSEM场发射扫描电镜对氧化镁颗粒进行低电压表征

通过电子束减速 (BD) 对氧化镁颗粒进行低电压表征 (500 V)。BD 可改进形貌细节并减少荷电伪影。

Trinity扫描探测系统高分辨形貌成像

使用Apero ChemiSEM场发射扫描电子显微镜镜筒内 Trinity 探测系统同时获取的三张纳米管图像:T1极靴内低位探测器,高成分衬度成像;T2极靴内中位探测器,高分辨形貌成像;T3镜筒内高位探测器,高分辨形貌成像和电位衬度成像。

使用ChemiSEM电镜扫描技术采集的图像信息更丰富

使用 T1、T2 和 T3 探测器采集的颗粒衬度不同的纳米管图像。(左图)灰度图像。(右图)ChemiSEM电镜扫描技术采集的相关图像,显示出催化剂颗粒中含有丰富的铁元素以及一种富含钼和氧的杂质。

场发射扫描电镜材料成分鉴定分析

Apero ChemiSEM场发射扫描电镜采用 ChemiPhase对钢材中的复合夹杂物进行相分析。ChemiPhase 可有效鉴定各种夹杂物及其成分和面积分数。其还能轻松检测非预期材料,通过单次分析即可提取全面的信息集。

Apero ChemiSEM场发射扫描电镜对氧化镁颗粒进行低电压表征

通过电子束减速 (BD) 对氧化镁颗粒进行低电压表征 (500 V)。BD 可改进形貌细节并减少荷电伪影。

Trinity扫描探测系统高分辨形貌成像

使用Apero ChemiSEM场发射扫描电子显微镜镜筒内 Trinity 探测系统同时获取的三张纳米管图像:T1极靴内低位探测器,高成分衬度成像;T2极靴内中位探测器,高分辨形貌成像;T3镜筒内高位探测器,高分辨形貌成像和电位衬度成像。

使用ChemiSEM电镜扫描技术采集的图像信息更丰富

使用 T1、T2 和 T3 探测器采集的颗粒衬度不同的纳米管图像。(左图)灰度图像。(右图)ChemiSEM电镜扫描技术采集的相关图像,显示出催化剂颗粒中含有丰富的铁元素以及一种富含钼和氧的杂质。

常见问题

FESEM是SEM家族的一员。FESEM是英文Field Emission Scanning Electronic Microscope的简称,就是场发射扫描电镜,是一种采用尖端肖特基热场发射技术或冷场发射的先进电子显微镜。Apreo ChemiSEM是一款热场发射扫描电子显微镜。扫描电子显微镜(SEM)根据其电子源的不同,可分为钨灯丝扫描电镜,六硼化镧扫描电镜,和场发射(肖特基发射源和冷场发射源)扫描电镜。

FESEM是英文Field Emission Scanning Electronic Microscope的简称,就是场发射扫描电镜。场发射扫描电镜是一种采用尖端肖特基热场发射技术或冷场发射的先进电子显微镜。

与传统的钨灯丝和六硼化镧扫描电镜相比,场发射技术提供了更强的电子束能量,从而使得二次电子图像更为清晰,理论上放大倍数可超过十万倍。此外,场发射扫描电镜在进行电子背散射衍射(EBSD)测试时也显示出显著的优势。

广东省赛默飞粤港澳大湾区基地(赛默飞世尔广州生物科技有限公司)

赛默飞的能谱为完全自研的,包括Truesight能谱探测器和配套软件

元素分析:确定样品中元素的种类和分布情况;半定量分析:测量样品中各元素的含量。

对于材料科学应用为主的扫描电镜,能谱是非常常见的配置(80-90%的情况下会配置能谱)

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