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赛默飞飞纳 Pharos G2 台式场发射扫描电镜可在办公室环境中帮助您以高分辨率分析小颗粒。它可用于成像纳米颗粒、镀层缺陷以及其他许多以纳米计量的细微特征,这些特征使用其他桌面或钨丝 SEM 通常难以检测到。
场发射电子枪(FEG)电子源可提供卓越的图像质量,提升分辨率和对比度。这些先进的电子源寿命显著优于传统钨丝,寿命约高出一个数量级。
场发射电子枪(FEG)电子源可提供卓越的图像质量,提升分辨率和对比度。
这些先进的电子源寿命显著优于传统钨丝,寿命约高出一个数量级。
要有效使用飞纳Pharos G2台式场发射扫描电镜,您只需要一张桌子并接受不到一小时的培训。这样,场发射扫描电镜 的高端分析能力可以向所有人开放——从实验室研究人员到研究生——使您和您的组织能够更好地利用显微镜。
得益于其场发射电子源,Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM 能以低至 1 kV 的加速电压成像,从而为包括聚合物在内的多种材料提供高分辨率、高质量的成像。其低 kV 成像能力使得在无需镀膜的情况下对电子束敏感材料进行成像成为可能,同时还能观察纳米尺度的表面特征。
工业实验室管理者在引入场发射扫描电镜技术时传统上面临的两大障碍是仪器的体积和操作复杂性:它们占用宝贵空间,且需要较长时间学习掌握。台式Pharos G2台式场发射扫描电镜专为可直接上机使用的系统而开发,旨在提升易用性与生产力。
| Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM | |
| 样品尺寸 | 最大直径 25 mm(可选 35 mm 和 100 mm(高度)) |
| 电子源类型 | 肖特基场发射电子源(Schottky field emission source) |
| 最大分辨率 | <2.0 nm |
| Detectors and signals |
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| 软件选项与附件 |
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| 占地尺寸 | 92.5(宽)× 305.6(深)× 343.5(高)mm,83.8 kg |
| 加速电压范围 | 1 至 20 kV |
| Low vacuum mode (stating pressure ranges) | 0.1 Pa – 1 Pa – 60 Pa |
仅供研究使用。不可用于诊断程序。