电子显微镜附件 | Thermo Fisher Scientific

用于半导体的 Hyperion™ 系统 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ Hyperion II 系统可带来快速、准确的晶体管电性表征和故障定位功能，为半导体技术发展、良率提升以及器件可靠性的改善提供有力的支持。Hyperion II 系统卓越的稳定性可将纳米探测带入 10 nm 以下技术节点。Hyperion II 系统的 SPM 技术支持 PicoCurrent 成像，该技术可快速识别短路、开路、漏电路径和电阻触点，其灵敏度比被动式电压衬度高 1,000 倍以上。扫描电容显微镜检查 (SCM) 模块提供基于图像的 SOI 晶片故障定位，以及高分辨率掺杂剂谱图分析。

纤维度量 Thermo Scientific™

随着 Thermo Scientific™ 纤维度量™ 应用的改进，直接观察和测量微米和纳米纤维比以往任何时候都更快、更有效和更容易。结合 Phenom 台式 SEM，纤维度量应用程序允许您从微纤维和纳米纤维样品中获得准确的尺寸信息。

Avizo 软件 Thermo Scientific™

Avizo 软件可在多种材料科学应用（如能量储存、金属和合金、复合材料和聚合物、和半导体）中实现可靠的先进材料特性提取和表征。有关其他信息，请查看此处：Avizo 软件 | 材料表征软件

适用于核心影像机构的 Athena 软件 Thermo Scientific™

Thermo Scientific Athena 软件是优质的成像数据管理平台，使用它可让专注于材料科学研究的核心成像机构简化科学成像工作流程。使用 Athena 软件可以在单一平台管理、查看和共享图像、数据、元数据和实验工作流程结果。在此处查找其他信息：影像数据管理 | Athena 软件

Auto Slice & View 4 软件 Thermo Scientific™

Auto Slice and View 软件通过自动采集高分辨率三维图像，彻底改变了 DualBeam（FIB-SEM）仪器的原始数据收集。它通过减薄连续切片并对用户定义样品量的每个切片进行成像来采集数据。该软件可在纳米水平研究样品的 3D 结构和成分。