instruments-pic1-180604

简便的 XPS 操作

使用Thermo Scientific™ Avantage 软件进行表面分析，充分发挥电子能谱仪的全部性能。 Avantage 软件作为最佳的数据系统，集仪器控制、数据采集、数据处理和报告编制于一体，能提供高精度、高准确性和可靠的仪器控制。

无论在专业研究实验室使用还是在多用户环境中作为一个工具使用，所有用户都离不开灵活、直观而又富特色的 Avantage 软件，使用 Avantage 软件可从样品中获得最丰富的信息。

  • 专业研究
  • 多用户操作
  • 适用于所有用户

数据系统为现代 XPS 仪器的关键组成部分，涉及仪器操作、数据精简、报告编制等所有方面。

所有 Thermo Scientific™ XPS 系统均使用 Avantage™ 软件控制仪器、处理数据及编制报告。 无论在专业研究实验室使用还是在多用户环境中作为一个工具使用，所有用户都离不开灵活、直观而又富特色的 Avantage，使用 Avantage 可从样品中获得最丰富的信息。

  • 所有 Thermo Scientific 表面分析系统的仪器控制操作
  • 非常灵活的实验设计
  • 自动数据采集，包括处理数据功能和编制报告
  • 综合数据库，参考数据和智能数据解析算法
  • 高级数据精简工具
  • 灵活的报告编制功能

 

完全系统控制、校正和跟踪

从装样开始，Avantage 会完成所有的仪器操作，准备采集数据。

Avantage 检测所有系统参数，并记录保存仪器运行数据。

Avantage 自动校正系统重要部件，全程掌握记录关键参数，如能量标精度。

数据采集

Avantage 能消除障碍，从样品上采集到高效精准数据。 无论是常规的点分析，还是 XPS 成像分析或者深度剖析，Avantage 都能引导仪器操作人员制定完整实验方案。 用户可设定自己专门使用的实验参数，并在库中保存常用的设定，以方便日常实验调用。

方便的缺省参数，智能化的扫描优化以及自动分析流程，系统可以在采谱的同时进行各种分析处理，直至打印出报告。

 

 

实验树

实验树是采谱程序的核心， 由几个简单的、模块化的组件构成。



自动识谱

智能化的能谱识别程序可定量计算元素组成，鉴别表面元素可能的化学价态。

 

 

Knowledge 阅读器

Avantage Knowledge 阅读器包含有 XPS 信息，提供实验需要考虑的建议和识谱建议。 Knowledge 阅读器连接能谱数据库，该数据库能在 Avantage 数据系统中打开，用于帮助谱峰拟合和化学态定量分析。

 

 

数据分析

用户在 Avantage 中很方便地选择处理工具，快速处理数据得到结果。

使用 Avantage，用户可从样品很轻松地得到重要的化学信息，包括对各谱定量、分峰得到的重要特征信息。

 

分峰

为了从重叠谱峰中定量分析化学态，必须采用合成谱形方法对数据进行拟合。 Avantage 能调节背景形状、谱形以及拟合算法，以尽量保证结果的准确性。 使用单键按钮就可添加相关联的双峰，因此用户可用已知峰确定与之相关联的另一个重叠峰。

 

 

元素和化学态像

图像数据中包含有丰富的信息，每一个像素点均对应于谱图阵列中一张谱，但这需要软件工具从图像中提取出来。 这些工具在 Avantage 中应有尽有。利用这些工具可以重构出元素和化学像、相分析像，以及从微小的特征结构中提取谱图。

 

回溯谱图

在 XPS 图像中选择感兴趣的区域。

Avantage 对每一个像素点进行平均，得到每一个区域内或每一个元素的结果。 用这种方法并行采集的 ESCALAB Xi+ 图像可显示尺寸小于 7 µm 的特征谱。

 

 

组分分析和相分析

用主成分分析功能对图像数据进行分析，可以提取谱成分，用于拟合表面化学态或识别表面相。 相分析能构造出元素或化学态定量分析像，以及每一种相的平均谱，特别适合于 XPS 图像分析结果报告。

 

 

数据剖析

XPS 在探索层状化学结构中发挥着关键的作用。 无论是借助于标准离子枪或高级MAGCIS™ 离子源采集溅射深度剖析，或者采集角分辨 XPS 数据，Avantage 均能收集和处理这些数据。 剖析图能在收集过程中实时显示，并通过对剖析图处理，能最大限度地了解薄膜和超薄膜。

 

深度剖析

在采谱期间，Avantage 可显示深度剖析结果，可在采集深度剖析数据的过程中修改溅射参数。 通过与远程操作仪器的 PC 计算机相结合，即使对于未知样品，也能在首次测量时，得到每一个深度剖析的正确结果。 使用全面的工具对每一剖析层中谱峰进行精确拟合，并将每一层的溅射时间转化成深度，可以定位化学结构层并进行测量分析。

 

 

角分辨 XPS

不论是运用 ESCALAB Xi+、K-Alpha 或者 Theta Probe 的并行成像功能收集 ARXPS 数据，Avantage 拥有所有必需工具，可最大限度地从超薄膜中提取信息。 简易的相对深度图易于使用，可确定化学结构层分布次序，计算层厚。

角分辨处理程序 (ARProcess) 插件能读入数据，并运用高级遗传算法构造出超薄膜结构的组分剖析结果。

 

 

报告

从简单的"拷贝粘贴"，到将数据集完整报告导出到自定义模板中，Avantage 用户可将 XPS 结果快速转入报告、论文和幻灯片。