电子显微镜附件

电子显微镜附件

电子显微镜附件是设计为与多种电子显微镜配合使用的产品,包括软件、样品支架等。
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1-15 of 50 Products

电动倾斜和旋转样品杆 Thermo Scientific™

现在可以使用 Thermo Scientific™ 电动倾斜和旋转样品支架揭示样品上所有隐藏的重要特征。样品可以有线条和孔,也可以有多层结构。新的电动倾斜和旋转样品支架允许从所有可见的侧面分析样品,并恶报获得样品独特 3D 图像。

Tensile 样品支架 Thermo Scientific™

用于 Thermo Scientific™ Phenom XL 的 Thermo Scientific™ 拉伸样品支架。拉伸试验是最简单和使用最广泛的机械试验之一。通过测量将样品拉伸至断裂点所需的力,可以确定材料特性,从而允许设计者和质量经理预测材料和产品在其预期应用中的行为。

电荷减少样品支架 Thermo Scientific™

该样品支架旨在减少样品装载量,并消除非导电样品的额外样品制备。样品(如纸、聚合物、有机材料、陶瓷、玻璃和涂层)成像变得快速和无障碍。

Perception Particle Analysis Software Thermo Scientific™

In today's fast-paced and dynamic world, manufacturers and researchers face increasing challenges to meet stringent quality standards and ensure the reliable performance of their products. Particle analysis has emerged as an indispensable tool in achieving these objectives, providing invaluable...

AsbestoMetric Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ Phenom™ AsbestoMetric 是一个专用的自动化软件包,专门开发用于促进快速和准确的石棉分析。ISO 14966 标准中规定的石棉纤维分析是一个冗长且精细的过程,由许多重复步骤组成。此外,在手动评价中,操作员需要目视检测纤维,这可能导致分析不准确。通过使用 AsbestoMetric,在每次运行的多达 9 个滤光器上,候选光纤的定位是全自动的,仅需分析员使用内置 EDS 检测器对光纤性质进行最终确认。

EDS 绘图 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ 元素映射软件是 EID 软件包中的一个选项(默认为 Thermo Scientific™ Phenom™ EDX 解决方案)。元素面扫揭示了样品中元素的分布。在这里,之前为光斑分析选择的元素可以在用户指定的像素分辨率和采集时间进行面扫。实时面扫算法显示所选元素面扫的实时累积,同时存储每个像素的光谱。这允许在面扫过程中或之后的任何时间添加或删除元素。

温控样品架 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ 温控样品支架由赛默飞世尔科技和 Deben 开发,旨在研究真空敏感和易受损样品,如生物、食品或有机涂层。温度受控样品支架能够控制样品的温度,因此会影响样品周围的湿度。这较大限度地降低了电子束的影响和样品的真空损伤。

Falcon 4i 直接电子探测器 Thermo Scientific™

Thermo Scientific Falcon 4i 直接电子检测器是您的单颗粒分析和冷冻断层成像应用的理想解决方案。 在此处查找其他信息:Falcon 4i 直接电子探测器

Inspect 3D 软件 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ Inspect 3D 软件提供了一种易用的断层成像序列(通过透射电子显微镜或扫描透射电子显微镜,即 TEM 或 STEM,获得)对齐解决方案,以及能量色散 X 射线光谱 (EDS) 图,从而产生数据的 3D 重建。Inspect 3D 软件还提供基本的可视化功能。所有的 Thermo Scientific TEM、STEM 和 EDS 断层扫描软件都与 Inspect 3D 软件完全兼容。 在此处查找其他信息:Inspect 3D 软件

Tomography 5 软件 Thermo Scientific™

TEM 断层成像软件,可对材料和生物制品样品进行 3D 电子断层成像分析,包括为冷冻电子断层成像提供支持。

用于半导体的 Meridian™ IV 系统 Thermo Scientific™

对于需要一流性能并可诊断参数失效、不良设计过程引起的多种失效模式的先进低电压高密度半导体器件开发者,Meridian-IV 系统是优先选择。 功能包括基于先进 InGaAs 的标准发射检测或基于 DBX 的高灵敏度扩展波长发射检测;获得专利、行业认可的“点选式”固体浸没透镜 (SIL);易于 ATE 直接对接的倒置平台;与广受欢迎的第三方 EDA 应用兼容;可选的激光扫描显微镜 (LSM),可用于静态和动态分析;易于与封装部件和晶片/晶粒背面样品配合使用;可选的 350 倍长工作距离 SIL。

Phenom 编程接口 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ Phenom™ 编程接口通过脚本控制显微镜的功能,扩展了 Phenom 台式 SEM 的功能。例如,载物台移动、导航相机和 SEM 成像可以被访问和控制。

MAPS Thermo Scientific™

Maps 是一款能够大面积自动采集高分辨率图像的模块化软件应用程序,可将您的仪器转换成一台高通量图像数据生成设备。

电子馈通式样品支架 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ 电子馈通式样品支架允许用户将电子探针连接到样品上进行原位测量。当在 SEM 中观察样品时,6 个快速释放针连接可用于待读取的各种信号以及同时施加到样品上的电压或电流。

加热杆 Thermo Scientific™

Thermo Scientific™ μHeater 支架是一款高真空兼容的超快速加热样品台,可用于原位样品加热,温度可高达 1200 °C。
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