SPARK 思想领袖网络研讨会：在半导体分析中考虑环境因素

北美：6 月 9 日上午 11:00（太平洋时区）
欧洲、中东和非洲地区：6 月 9 日早上 6:00（太平洋时区）/下午 3:00 (欧洲中部夏令时间)
亚太地区：6 月 9 日晚上 7:00（太平洋时区）/上午 11 点（韩国标准时）
中国： 6月10日上午10:00（中国标准时间） 

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通过最大限度地减少对半导体实验室的环境干扰来提高生产力和减少停机时间。

随着公司专注于增加产能和产量来满足需求形势，最大限度地提高系统性能和正常运行时间变得至关重要。故障分析经理最不想要的就是在执行扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 工作流程时改变焦点或不理想的 S/TEM 图像。无论您是在讨论在现有实验室中布置一个新系统，还是开发一个全新的设施，优化系统周围的环境都可以增加竞争优势。

参加我们的网络研讨会，了解如何将对仪器性能产生负面影响的环境因素降到最低。您将了解到： 

• 振动、声学和电磁干扰等环境干扰如何破坏电子显微镜和其他实验室仪器的性能。
• 场地准备调研对于帮助最大程度地减少新设施和现有实验室中问题的重要性。
• 建立一个可以帮助您的实验室更好地适应未来发展，并保持与您的组织同步发展的良好环境的有效方法。

 关于 SPARK：

SPARK 是一个知识社区，半导体专业人员、研究人员和思想领袖可在此就工具性能和典范做法各抒己见，获取有关半导体和微电子的深刻见解，以及了解前沿解决方案。