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当社は、学会会期中に下記のランチョンセミナーおよび冠ワークショップを開催いたします。ぜひご参加ください。なお、今後の状況により、内容が変更となる場合がございます。最新情報は、下記の大会日程・プログラムページをご確認ください。ランチョンセミナーの予約チケットは、当日ホワイエ内の指定テーブルにて、学会事務局より配布予定です。
講演名：自動化がもたらす新しい電子顕微鏡のマルチスケールおよびマルチモーダル観察
時間：13:00 – 13:30 | 会場：H（70名） 発表者：Zino Leijten | 石丸 雅大
アブストラクト：電子顕微鏡の自動化は近年増々発展している。日常の観察におけるフォーカス合わせや非点調整といった単純な動作はもちろんの事、これらを組み合わせた自動での観察や測定、さらにこれらを組み合わせた画像や結果の複合化など、枚挙に暇ない。このセッションでは我社の自動化への取り組みの最新情報や具体例について報告すると共に、自動化が可能にするマルチスケールおよびマルチモーダル観察によって得られる知見についてご紹介する。
講演名：AIを用いた低倍率顕微鏡画像の超解像画像処理技術による電池材料の空隙構造評価
時間：13:40 – 14:10 | 会場：H（70名）
発表者：蔡 孟軒
アブストラクト：材料評価では、広視野観察と高解像度観察がトレードオフの関係にあり、広域構造と微細構造を同時に評価することが難しい。本研究では、AIモデルである敵対的生成ネットワーク（GAN）を用いて広視野・低倍率画像から高解像度の超解像画像を生成し、バッテリー用セパレータの空隙構造解析への応用を検討した。生成画像を実測の高解像度画像と比較し、広視野画像からの微細構造解析の可能性を評価した。
講演名：Iliadを利用した最新アプリケーションと新製品Scios 3のご紹介
時間: 12:00 – 12:50 | 会場：B （展示室1-A）（352名）
発表者：Zino Leijten | 石丸 雅大 アブストラクト：収差補正機能付きS/TEM Iliad は、統一されたUIと様々な自動化機能によって使いやすさと高度な測定を両立させるばかりか、常にフォーカスのあったEELSスペクトルの取得や、NanoPulser静電ビームブランカーによる低電子線耐性材料への観察など、これまで不可能であった電子顕微鏡観察結果を報告している。これらの最新アプリケーションと共に新製品Scios 3の特長についてご紹介する。
講演名：FIB-SEMが切り拓くVolume-EMの最前線
時間：12:00 – 12:50 | 会場：C (会議室1)（168名）
発表者：前田 晋太朗
アブストラクト：FIB-SEMを用いたVolume-EMは、細胞や組織内部をナノメートル分解能で三次元的に可視化する強力な手法である。本セミナーでは、試料作製から自動連続断面取得、3D再構成までのワークフローと最新応用例を紹介し、生命科学研究における実践的な活用法と可能性を解説する。
研究用にのみ使用できます。診断目的での使用はできません。