Thermo Scientific™ 21Plus-C 在线X射线测厚仪提供精确、稳定的高分辨率厚度或重量测量,可显著改进薄膜产品的质量稳定性。其采用数字式的电源控制,可以精确调整传感器来测量材料特性。

该系统为连续卷材行业提供了广泛的通用解决方案,被测材料可以在同一条生产线上,根据检测需求灵活定制,并使用一个或多个机架进行测量。采用高分辨率传感器,丰富的可选配件,以及直观的人机操作界面,其中控制台可同时操控一台或多台机架,预留MES集成并支持PLC通信,可多机架数据统一储存集中管理。通过提升产品质量,提高工艺效率,节省原材料,使其成为一个简易并具有高成本效益的解决方案。

工作原理:单一波长X射线穿透某种材料时,被材料反射、散射、吸收,导致穿透的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透物体的面密度呈正指数关系。通过利用X射线探测器测量射线穿透材料前后的射线强度变化,即可计算出物质材料的面密度。

在工作时,辐射传感器安装在扫描架上并水平移动,对被测工件(如塑料薄膜、电极涂层等)进行在线厚度/密度检测,并将实时检测和记录数据传输到人机界面。

Thermo Scientific™ 21Plus-C 在线X 射线测厚仪

应用场景

  • 锂电极片涂层
  • 塑料薄膜
  • 卷材或涂层的面密度
  • 涂层重量测量

卓越的性能和精度

Thermo Scientific 21Plus-C 在线X射线测厚仪以其高分辨率和快速响应时间著称,能够在生产线上实现实时监控和质量控制。其测量精度可达微米级,确保每一批次产品的厚度都在严格的公差范围内。能够在生产线上实现实时监控和质量控制。此外,X 射线测厚仪能够适应各种复杂的材料测量和工艺环境。无论是极片涂层还是塑料薄膜,都能提供稳定可靠的测量结果。

高性能X射线传感器

稳定、高通量、低噪讯比的X射线源,能够根据被测量的材料,进行大范围的数字式调整。同时,低功率X射线管的利用可排除使用外部冷却装置的需要。在关闭电源后,其放射性随即消失,不会有放射性残留,更符合环保需求。成熟的校准算法可轻松添加新应用,从而从优化投资回报的利益。

丰富的可选配件

21Plus-C系统为了满足检测要求,可提供丰富的配件选型,包括:单机架显示组件、机头机尾显示模块、防护用移门、辅助过辊装置中央多机架控制系统,增高支架等,可根据客户现场的应用需求,灵活配置设备,适应各种复杂工艺环境。

21Plus-C 在线测厚系统提供精确、稳定的高分辨率厚度或重量测量,可显著改进薄膜产品的质量稳定性。其采用数字式的电源控制,可以精确调整传感器来测量材料特性。

直观的人机操作界面

21Plus-C系统配备了更加直观的操作界面,使用户能够轻松进行测量和数据分析。其可以提供实时值/ 平均值/ 当前扫描速度/ 温湿度/ 测量位置等数据信息,并且显示测量线/ 厚度线/ 厚度平均线/ 趋势线/ 彩带图等实时图形,用户还可以通过内置软件对数据进行统计分析,提供历史数据查询、线图复显,以便更好地监控生产过程和优化工艺参数。不仅简化了操作流程,更提供了丰富的图形化显示和数据处理功能,帮助用户快速获取和解读测量结果。

强大的中控系统

控制台可同时操控一台或多台机架,预留MES 集成并支持PLC通信,可多机架数据统一储存集中管理。该系统可以实时监测生产线上材料的检测数值,确保产品符合规格要求。通过连续测量和数据记录,及时发现和纠正生产中的偏差,提高产品质量。该中控系统还能够存储和分析测量数据,帮助工艺工程师了解生产过程中的趋势和问题,优化生产工艺。当测量结果超出预设范围时,中控系统会及时报警,避免不合格产品的产生,减少人工干预,提升生产效率,降低生产成本。

卓越的性能和精度

Thermo Scientific 21Plus-C 在线X射线测厚仪以其高分辨率和快速响应时间著称,能够在生产线上实现实时监控和质量控制。其测量精度可达微米级,确保每一批次产品的厚度都在严格的公差范围内。能够在生产线上实现实时监控和质量控制。此外,X 射线测厚仪能够适应各种复杂的材料测量和工艺环境。无论是极片涂层还是塑料薄膜,都能提供稳定可靠的测量结果。

高性能X射线传感器

稳定、高通量、低噪讯比的X射线源,能够根据被测量的材料,进行大范围的数字式调整。同时,低功率X射线管的利用可排除使用外部冷却装置的需要。在关闭电源后,其放射性随即消失,不会有放射性残留,更符合环保需求。成熟的校准算法可轻松添加新应用,从而从优化投资回报的利益。

丰富的可选配件

21Plus-C系统为了满足检测要求,可提供丰富的配件选型,包括:单机架显示组件、机头机尾显示模块、防护用移门、辅助过辊装置中央多机架控制系统,增高支架等,可根据客户现场的应用需求,灵活配置设备,适应各种复杂工艺环境。

21Plus-C 在线测厚系统提供精确、稳定的高分辨率厚度或重量测量,可显著改进薄膜产品的质量稳定性。其采用数字式的电源控制,可以精确调整传感器来测量材料特性。

直观的人机操作界面

21Plus-C系统配备了更加直观的操作界面,使用户能够轻松进行测量和数据分析。其可以提供实时值/ 平均值/ 当前扫描速度/ 温湿度/ 测量位置等数据信息,并且显示测量线/ 厚度线/ 厚度平均线/ 趋势线/ 彩带图等实时图形,用户还可以通过内置软件对数据进行统计分析,提供历史数据查询、线图复显,以便更好地监控生产过程和优化工艺参数。不仅简化了操作流程,更提供了丰富的图形化显示和数据处理功能,帮助用户快速获取和解读测量结果。

强大的中控系统

控制台可同时操控一台或多台机架,预留MES 集成并支持PLC通信,可多机架数据统一储存集中管理。该系统可以实时监测生产线上材料的检测数值,确保产品符合规格要求。通过连续测量和数据记录,及时发现和纠正生产中的偏差,提高产品质量。该中控系统还能够存储和分析测量数据,帮助工艺工程师了解生产过程中的趋势和问题,优化生产工艺。当测量结果超出预设范围时,中控系统会及时报警,避免不合格产品的产生,减少人工干预,提升生产效率,降低生产成本。

产品特点

  • 电极涂层均匀性和厚度控制
  • 更高的空间分辨精度
  • 闭环自动控制
  • 适用于连续、贴片或条纹涂层
  • 前置放大电路技术,带来给大信噪比
  • 更高的传感器重复性精度

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