XRF(X射线荧光)光谱仪技术及原理

手持式 X 射线荧光光谱 (XRF) 技术及工作原理？

XRF 是 X 射线荧光光谱法的缩写。XRF 是一种用于确定材料元素组成的非破坏性分析技术。手持式X射线荧光（XRF）光谱仪原理是测量受主 X 射线源激发时样本发出的荧光（或次级）X 射线。

样品中的每种元素都会产生一组特征荧光 X 射线，或“独特的指纹图谱”。每种元素的这些“指纹”各不相同，使手持式 XRF 技术分析成为定量和定性测量的极佳工具。

手持式XRF原理

1. 使用从受控 X 射线管发出的高能 X 射线照射样品。能量导致内壳层电子被射出。外壳层电子填 补空位，发射荧光 X 射线。
2. 荧光 X 射线进入检测器并将电子脉冲 发送到前置放大器。前置放大器放大信号并将其发送到数字信号处理器 (DSP)，以收集 X 射线信号并将其数字化为能量通道。然后，将每个通道的“计数”（光谱数据）发送到主 CPU 进行处理。
3. 中央处理单元 (CPU) 使用多种算法分析光谱数据并确定每种元素的浓度。仪器会实时显示成分数据和鉴定得出的合金品级，并通过存储器进行存储，以备以后调用或下载到外部 PC 之中。