欢迎辞

在半导体技术持续迈向更高良率与更强可靠性的进程中,精准洞察与高效验证能力正成为关键竞争力。

赛默飞诚挚邀请您参加 2026年半导体解决方案研讨会(上海站)。本次会议将围绕:

  • 物性与电性失效分析技术
  • ESD测试与失效路径验证
  • 多维度协同分析方法
  • AI时代下的半导体分析解决方案

结合真实应用案例与实践经验,系统探讨高良率和可靠性阶段的问题定位路径与可落地的技术方案。

我们期待与您现场交流,共同探索更高效、更精准的分析思路。

线上线下同步进行

时间:2026年3月24日(周二) 13:00–18:30

地点:赛默飞客户体验中心(上海市浦东新区张江高科技园区金科路2517号中国芯科技园A栋)

线下席位有限,请提前预约确认。

会议议程

时间演讲课题演讲嘉宾
13:00 - 13:30签到
13:30 - 13:35Welcome Speech Trisha Rice 赛默飞材料与结构分析业务全球商务副总裁
13:35 - 14:05更高、更快、更强-赛默飞最新一体化球差TEM介绍 Guittet Pierre-Yves 赛默飞半导体业务部透射电子显微镜(TEM)产品总监
14:05 - 14:35赛默飞次时代聚焦离子束系统 Michael Rauscher 赛默飞半导体业务部XDB产品高级总监、总经理
14:35 - 15:00Tea Break&Group Photo    
15:00 - 15:30Accelerated Computing and the Semiconductor Ecosystem:
A virtuous cycle enabling a virtuous cycle in the sciences
NVIDIA  
15:30 - 16:10AI时代EFA & CTS最新解决方案介绍 Praveen Vedagarbha 赛默飞半导体业务部EFA产品市场总监
16:10 - 17:30Live Demo
  • Helios 5 Hydra
  • Helios 6 HD
  • ELITE
   
17:30 - 18:30Cocktail Reception  

重磅嘉宾

  • Trisha Rice
    赛默飞材料与结构分析业务全球商务副总裁

    Guittet Pierre-Yves
    赛默飞半导体业务部透射电子显微镜(TEM)产品总监

    Michael Rauscher
    赛默飞半导体业务部XDB产品高级总监、总经理

  • Praveen Vedagarbha
    赛默飞半导体业务部EFA产品市场总监