Webinar
Jul 06, 2022

10:00 a.m. CST

随着每个新的工艺节点迭代，对TEM样品的需求也在增加。随着需求增加以及更高密度的器件，TEM样品制备也带来了独特的挑战。这就要求TEM样品制备解决方案具有高通量、精确铣削和自动化功能，以支持芯片制造商的需求。

在本次网络研讨会中，我们将讨论：

  • 独特的TEM样品制备挑战
  • 应对这些挑战的解决方案
  • 如何通过分步说明制作高质量的TEM样品
主讲嘉宾
蔡琳玲 赛默飞世尔科技PFA业务拓展经理

蔡琳玲 赛默飞世尔科技PFA业务拓展经理

赛默飞PFA商务拓展经理，10多年电镜技术支持的从业经验，具有坚实的显微镜理论基础以及丰富的实际应用经验，对于电镜产品如何助力于逻辑、存储、化合物半导体、封装以及面板类产品的研发以及良率提升有着持续和深入的研究，对于半导体工业各类样品的的失效分析方法都非常熟悉。基于她丰富的应用经验，她可以为不同行业的客户提供相适应的EFA到PFA的失效解决方案

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