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AI 기술이 주도하는 반도체 시장의 급속한 변화로 인해 제품의 다양한 형태(Form-factor)와 기술 개발에 대한 요구가 날로 증가하고 있습니다. 이로 인해 구조적 결함(PFA: Physical Failure Analysis)과 소자 특성 결함(EFA: Electrical Failure Analysis) 사이의 경계가 모호해지고 있으며, 제품 전체에 대한 통합 분석 결함 솔루션(HoFAS: Holistic Failure Analysis Solution)의 필요성이 더욱 강조되고 있습니다.
또한, 최근 반도체 분석 공정에서는 대형 패키지 내의 미세 결함(Small defects in a large package) 탐지가 그 어느 때보다 중요해지고 있으며, 이를 위해 고속 처리량(Throughput) 기반의 대량 고장 분석(Large-volume FA) 솔루션에 대한 수요가 급증하고 있습니다. 이러한 변화에 발맞추어 Thermo Fisher Scientific은 차세대 모델인 Hydra Plus를 통해 분석 생산성의 새로운 기준을 제시하고자 합니다.
Thermo Fisher Scientific은 기존의 분석 기술의 한계를 극복하고, 분석 기술의 고도화할 뿐만 아니라 자동화 및 Machine Learning 솔루션 분야에서도 선도적인 기업이 되기 위해 끊임없이 노력하고 있습니다. 2025 SPARK Seminar는 Thermo Fisher Scientific이 자신있게 소개하는 통합 반도체 분석 솔루션의 새로운 패러다임을 한 자리에서 경험할 수 있는 최적의 기회가 될 것입니다.
반도체 분석 기술의 최전선에 있는 Thermo Fisher Scientific의 전문가들이 제공하는 깊이 있는 지식과 최신 기술을 만나볼 수 있는 소중한 기회를 놓치지 마세요!
Time |
Duration |
Topic |
9:30 - 9:50 AM |
20 min |
Registration / Coffee time |
9:50 - 10:00 AM |
10 min |
Opening |
10:00 - 10:50 AM |
50 min |
Helios 5 Hydra: A New Era in FIB milling for Semiconductor FA |
10:50 - 11:40 AM |
50 min |
The New Standard in Analytical Electron Microscopy with Iliad EELS |
11:40 - 12:40 PM |
60 min |
Lunch |
12:40 - 1:30 PM |
50 min |
Unlocking the potential of SEM, Apreo ChemiSEM |
1:30 - 2:20 PM |
50 min |
TEM-Prep Precision and Productivity Enhancement with Helios 6 HD |
2:20 - 2:30 PM |
10 min |
Break Time |
2:30 - 3:20 PM |
50 min |
OPTIS: A new era of Wafer DualBeam for semiconductor |