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EM FOR THE FUTURE – Young Scientist Webinar
전자현미경(EM)은 다양한 과학 분야에서 연구의 깊이와 가능성을 넓히고 있습니다. 본 웨비나 시리즈는 젊은 과학자들의 연구 성과를 공유하고, EM 기술의 실제 연구 활용을 확대하기 위해 기획되었습니다.
4D-STEM
4D-STEM은 전자 빔을 시료 위의 각 위치에 주사(Scanning)하면서 각 위치에서 얻어진 전자 회절 패턴을 동시에 기록하는, 차세대 투과전자현미경(TEM) 분석 기법입니다.
기존의 STEM(주사 투과전자현미경)은 시료의 한 점에서 전류나 신호 세기를 측정하는 방식이었지만, 4D-STEM은 각 주사 위치마다 2차원 회절 패턴을 수집하여 총 4차원(2D real space + 2D reciprocal space)의 데이터를 얻을 수 있다는 점에서 큰 차별성을 가집니다.
이러한 4차원 데이터는 결정 구조, 변형(strain), 전기장(electric field), 위상(phase) 분포 등 다양한 물리적 정보를 정밀하게 추출할 수 있게 해 주며, 기존 TEM보다 훨씬 높은 공간적·물리적 해상도의 정량 분석이 가능합니다.
실제로 4D-STEM은 반도체 및 나노소재의 변형 분석, 전자 및 전하 분포 연구, 위상물질 및 강유전체의 분극 구조 해석 등 여러 분야에서 빠르게 활용이 확산되고 있습니다.
이번 세션에서는
• 4D-STEM의 개념과 기본 원리
• 데이터 수집 및 처리 방법
• 변형, 전기장, 위상 분석 등 주요 응용 사례
를 중심으로, 4D-STEM 기술이 재료 과학 및 나노물질 연구에 가져오는 새로운 가능성과 연구적 파급효과를 살펴봅니다.
웨비나 안내
• 일시 : 2025년 12월 2일 화요일 14:00 – 15:00
• 참여 방법 : 유튜브 라이브 송출 (사전 등록자 대상 링크 전송)
추천 대상
• 반도체, 재료, 화학, 생명과학 등 다양한 산업 분야의 연구에 초고해상도 구조 분석연구를 필요로 하는 연구자
• 나노 재료, 비정질 물질, 복잡한 구조의 재료 등 분석이 어려운 재료의 원자배열, 결함, 변형 등을 연구하는 연구자
• 에너지, 전자, 자기 등 재료의 다양한 물리적, 화학적 특성을 분석하고자 하는 연구자
• 신소재의 특성을 나노 스케일에서 이해하고 분석하는 데 필요한 기술을 습득하려는 연구자
강연자 소개
Yang, Yongsoo
Professor, Department of Physics
KAIST(Korea Advanced Institute of Science and Technology)