规格
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
描述Evolution 220 紫外-可见光分光光度计,计算机控制,随附欧洲/美国/英国规格电源电缆
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
包括欧盟/美国/英国电源线
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260 nm,1nm SBW,RMS
光学设计优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料
药典合规性测试(保证性能质量标准)
分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010 A
杂散光:≤1%T @ 198 nm:KCI;220 nm 处为 ≤ 至 0.05 %AT:Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1 nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器Microsoft Windows 7、Windows 8
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(英制)32 lb.
重量(公制)14.4 kg
检测器类型双硅光电二极管
显示器无
产品线Evolution 220
光谱带宽可变:1.0 nm,2.0 nm
类型计算机控制紫外-可见分光光度计
波长范围190 nm 到 1100 nm
Unit SizeEach