为每一种平面片材提供最佳测量技术

选择能够对目标材料进行可靠测量的传感器,是构建稳健幅材测量系统的第一步。为确保实现最佳匹配,可选用多种测量技术。应综合考虑不同技术的特点,以确定最适合的方案。


贝塔(核)

贝塔传感器通过测量材料对同位素发射的贝塔粒子的吸收来确定定量。采用优化射源(强度和几何结构)的系统,能够以优异的精度和较高的边缘分辨率测量广泛类型的材料。典型应用包括薄膜和片材挤出、挤出涂布、屋面材料及其他建筑产品、 胶质物以及乙烯基压延。

红外

红外传感器通过测量材料对光的吸收来确定厚度,可采用透射模式或反射模式工作。先进系统能够区分“光谱特征”高度相近的材料,从而为单层和多层产品提供准确数据。典型应用包括涂层、薄膜、非织造材料以及双向拉伸挤出产品。

直接厚度测量

直接厚度传感器通过测量多种物理性质来监测具有不同表面状态的材料,并且对产品颜色、不透明度或透明度的敏感性极低。典型应用包括挤出片材和压延片材、泡沫材料、橡胶、复合材料以及涂覆基材。

X射线

X射线传感器通过测量材料对电源式X射线源所发射X射线的吸收特性,来确定定量和厚度。这类高性能传感器可在同一条生产线上使用单个传感器测量范围最广的材料和产品,因此是一种简便且具有成本效益的选择。典型应用包括纸张和纸板、纺织品、非流延薄膜、非织造材料、塑料和包装材料、复合双向拉伸薄膜及绝缘材料、涂层以及层压材料。


仅供研究使用。不用于诊断程序。