匹配适合您产品测量与控制需求的扫描架、传感器和软件,以优化您的工艺

幅材测量系统由三个关键组成部分构成:扫描架、传感器和软件平台。这些组件共同决定了系统可测量的项目、测量的准确性与可靠性、使用便捷性、维护要求以及与工艺的匹配程度。针对具体应用选择最合适的各个组成部分,是实现投资回报最大化的关键。


扫描架

稳健的扫描架设计是实现稳定、准确、可靠测量以及尽可能降低维护要求的关键。您可考虑以下选项:

我们的扫描架系列可靠且维护需求低,可满足不同材料、产线宽度、加工环境和安装配置限制等多种要求。

Mark III 工业扫描架

这是一款坚固耐用的高性能扫描架,提供多种宽度选择,适用于要求最严苛的应用,包括高温应用以及存在潮气、粉尘和纤维的环境。可搭配我们的所有传感器使用,并可选配多个传感器头组合,同时实现多种在线测量。

Integra O 型架

一款智能化、高扫描速度的扫描架,专为锂离子电池电极涂布应用设计。

C 型架扫描架

这是一款坚固、灵活且高速的扫描架,提供单框架或双框架选项,可用于立式或悬挂式安装,适配不同产线宽度,并支持水平、垂直、倾斜或特定应用所需的测量路径。适用于安装空间受限的场景,也适合在严苛环境中运行;符合洁净室规范。


传感器

合适的传感器能够确保实现 24/7 准确且稳健的工艺测量,即使面对多层产品、材料波动和/或严苛的工艺环境也同样如此。您可考虑以下选项:

我们提供多种重量和厚度测量技术,以满足工艺、材料及成本方面的限制条件。

Beta Plus 定量透射传感器

结合真实狭缝源几何结构、高效率光学系统与探测器以及快速温度补偿技术,为各种应用提供准确、高分辨率的测量。

PROSIS 红外过程分析厚度传感器

在整个近红外光谱范围内进行测量,以较低的总体拥有成本提供精确的多组分厚度数据。

ShadowMaster 直接式厚度测量仪

集成光学、温度和感应式传感器,可测量厚度最高达 6500 µm(260 mil)的单层、多层和压花产品。

X-ray Master 重量与厚度传感器

采用数字控制、精确可调的射线源,为最广泛材料范围提供准确、高分辨率且稳定的测量。


软件

我们的人机界面(HMI)可实现直观且高效的交互与控制。它提供实时数据可视化、可自定义仪表板,并可与多种工业系统无缝集成。该 HMI 平台以用户为中心设计,使操作人员能够轻松浏览并与系统交互,并已在多个行业中得到广泛应用。

 

它为工艺控制提供了基础,并使操作人员能够访问和使用系统生成的各类测量数据。您可考虑以下可选方案:

获取您所需的数据,并利用这些数据推动更完善的工艺控制。

21PlusHD

我们的旗舰测量与控制平台,集成 40 多种专业应用软件包,并配备直观易用的界面。

iPlus!

具备成本效益且易于使用的测量与控制软件。


仅供科研使用。不得用于诊断程序。