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直读光谱法 Thermo Scientific™ ARL iSpark™系列电弧/火花激发的OES系统，可对固体金属样品进行快速元素分析，适用于从生产控制到R&D，从进料检测到废料分类的绝大多数分析要求； 了解更多 ›

X射线荧光光谱法 Thermo Scientific™ ARL™系列XRF系统，是无损元素分析的行业"金标准"，无论是固体或液体样品，均可直接进行主元素和微量元素同时检测； 了解更多 ›

辉光放电质谱法 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS是固体材料直接分析的黄金标准，可对高纯度导体、半导体以及合金材料中主元素和痕量元素进行全元素直接分析，广泛服务于航空航天、微电子、可再生能源等领域； 了解更多 ›

环境真空扫描电镜法 Thermo Scientific™扫描电镜独特的ESEM™技术，能够在材料处于自然状态（包括湿度和热循环）下时开展原位实验，从而在微米级到纳米量级研究物理现象、纳米粒子相互作用和纳米结构自组装； 了解更多 ›

聚焦离子束-扫描电镜法 Thermo Scientific™ DualBeam™的独特技术，博采聚焦离子束（FIB）铣削和扫描电镜（SEM）分析之长，在纳米尺度下观测、切割、蚀刻、减薄、清洁、镀膜或原型样本制备，能为包括磁性材料在内的众多样本，提供出色的二维和三维分析； 了解更多 ›

透射电镜法 Thermo Scientific™ Talos™系列像差校正扫描透射电镜（S/TEM），与业界领先的EDS断层扫描技术相结合，显示材料的原子结构、缺陷、纹理和界面结构； 了解更多 ›

计算机断层扫描法 Thermo Scientific™ HeliScan™ micro-CT系统，通过利用先进的螺旋扫描和迭代重构技术以产生无与伦比的图像保真度，从内部结构探索与验证各种材料的特性； 了解更多 ›

能量色散X射线谱系统 Thermo Scientific™ Pathfinder™ X 射线微区分析软件可与您电镜上的能量色散谱 (EDS) 和波长色散谱 (WDS) 配合使用，即使是在最复杂的基质内也能找出微量或痕量元素，快速显示样品化学成分，改善您的电子显微镜分析； 了解更多 ›

金属涂层克重系统 赛默飞提供品种齐全的非接触式测厚仪，其精确、实时的测量足以满足任何应用领域最严格的规格要求，同时最大限度地利用原材料； 了解更多 ›

金属厚度测量系统 赛默飞提供品种齐全的非接触式测厚仪，其精确、实时的测量足以满足任何应用领域最严格的规格要求，同时最大限度地利用原材料； 了解更多 ›

料位测量系统 Thermo Scientific™ LevelPRO 系列料位计易于使用，可以用较小的剂量执行准确、连续测量，适合各种工业应用 了解更多 ›

X射线光电子能谱法 XPS技术有助于了解材料层表面处和界面处的物理和化学相互作用，表征材料的各类表面化学特性，如腐蚀速率、催化活性、粘合性、表面润湿性、接触势垒和失效机理等； 了解更多 ›

计算机断层扫描法 Thermo Scientific™ HeliScan™ micro-CT系统，通过利用先进的螺旋扫描和迭代重构技术以产生无与伦比的图像保真度，从内部结构探索与验证各种材料的特性； 了解更多 ›