传输线脉冲测试 | Celestron | Thermo Fisher Scientific

Thermo Scientific Celestron 传输线脉冲/极快速传输线脉冲 (TLP/VF-TLP) 测试系统可针对标准 TLP 和 VF-TLP 进行配置，以便进行晶片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测销或非被测焊盘上的信号。Celestron 系统软件是业界极为全面的软件，它利用图形来辅助系统设置和与被测器件 (DUT) 的连接。在测试运行期间，系统可显示记录的 TLP 脉冲电压和电流波形、编制的脉冲 I-V 曲线、泄漏电流测量结果以及 DC I-V 曲线追踪数据。操作员可选择测试电压（应力脉冲）的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。

主要特点

灵活的测试功能

Thermo Scientific Celestron TLP/VF-TLP 测试系统可针对标准 TLP 和 VF-TLP 进行配置，以便进行晶片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测销或非被测焊盘上的信号。

卓越的测试控制

操作员可选择测试电压（应力脉冲）的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。

脉冲发生器

高电流 TLP 脉冲发生器。

探测器

可与半自动探测器配合使用。

规格

产品表格规范样式表

标准 TLP 配置	脉冲宽度为 30 至 500 ns	集成在脉冲发生器盒中，标准 TLP 脉冲宽度为 100 ns 可通过 30 至 500 ns 范围内的线缆更改从外部添加额外的脉冲宽度可选的计算机控制脉冲宽度，具有 3 个可选脉冲宽度
	可用上升时间	标准上升时间为 200 ps 500 ps 至 10 ns 的可选上升时间通过可选的外部上升时间过滤器控制包括 2 ns 和 10 ns 外部上升时间过滤器可选计算机控制上升时间，具有 3 个可选的上升时间注：TLP 测量需要 500 MHz 或更快的示波器对于上升时间小于 1 ns 的测量，建议使用 1GHz 或更宽的范围
	支持所有 TLP 配置	25 至 500 ohm 输出阻抗配置的可选更改支持 ESD 协会 TLP 标准测试方法中描述的所有配置所有阻抗的晶片级和封装测试
标准 TLP/VF-TLP 配置	集成系统控制器	无需专用计算机 Windows® 操作系统
	集成式产生源/测量仪表单元	曲线追踪至 ± 200 V 漏电测量低至 50 pA 基于漏电或具有强制电流的电压或两者的 DUT 故障检测
	传输线脉冲 (TLP/VF-TLP)	设计上符合现行 ESD 协会标准测试方法文件 (ANSI/ESD STM 5.5.1-2016) 的相关要求
标准 VF-TLP 配置	脉冲宽度为 1.2 至 10 ns	通过系统前部的线缆更改进行选择标准宽度为 1.2、2.5 和 5 ns（其他可选）
	上升时间为 200 ps 至 2 ns	通过可选的过滤器控制标准上升时间为 200 和 300 ps 包括 2 ns 外部上升时间过滤器
	最大脉冲电流	15 A 形成 50 ohm 负荷约 30 A 形成短路
	最大开路电压	1500 V