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XPS 仪器概述
50多年来，赛默飞一直为学术界和工业界客户提供表面分析仪器。 我们的仪器提供先进材料科学研究、产品开发和故障分析所需的性能。 我们多样化的产品组合旨在满足各种应用需求，既适用于常规高通量测量，也能应对复杂的实验工作流程。
XPS 仪器规格
| XPS 仪器分析选项 | 拉曼光谱 | 可选 | 可选 | ||
| MAGCIS 离子源 | 可选 |  |
可选 | ||
| 反射电子能量损失谱 (REELS) | 可选 | |
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| 低能离子散射光谱 (ISS/LEIS) | 可选 | |
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| 紫外光电子能谱 (UPS) | 可选 | 可选 | 可选 | ||
| 俄歇电子能谱 | 可选 | ||||
| 样品制备选项 | 可选 | 可选 | 可选 | ||
| 惰性样品传输 | 可选 | 可选 | 可选 | 可选 | |
| 高能X射线源（HAXPES） | 可选 |
仅供研究使用。不得用于诊断程序。