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来自 Thermo Fisher Scientific 的 XPS 表面分析系统
Thermo Scientific Nexsa G2 X射线光电子能谱系统 提供全自动、高通量的表面分析，产生可用于推进研发或解决生产问题的数据。 通过将 XPS 与离子散射谱 (ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失谱 (REELS) 和拉曼光谱相结合，可以进行真正的相关分析。
该系统现在可选配样品加热和样品施加偏压功能，从而扩大可开展的实验类型。 Nexsa G2 表面分析系统为材料科学、微电子学、纳米技术开发及许多其他应用的进展释放潜力。
Nexsa G2表面分析系统的特性
高性能 X 射线源
一种新的优化 X 射线单色仪设计使得可以以 5 µm为步进，选择从 10 µm 到 400 µm 的分析区域，确保从目标特征采集数据的同时最大化信号强度。
优化电子光学
高效电子透镜、半球形分析器和探测器可实现卓越的可检测性并加快数据采集。
XPS 样品观察
通过 Nexsa G2表面分析系统 的专利光学观察系统和 XPS SnapMap，可将样品特征聚焦并帮助您快速定位感兴趣区域。
XPS 绝缘体分析
该专利双束电荷中和源将低能离子束与超低能电子（低于 1 eV）相结合，可防止样品在分析过程中发生荷电，因此在大多数情况下无需进行荷电校正。
XPS 深度剖析
借助 EX06 离子源，深入表面之下开展分析。。自动化的离子源优化和气体处理确保出色的性能与实验可重复性。
Optional XPS 样品架
借助可用的专业样品夹具扩展您的应用场景：用于角度分辨 XPS、样品偏压测量或来自手套箱的惰性转移。
Avantage 软件
仪器控制、数据处理和报告均由 Thermo Scientific 的 Avantage Software 进行管理。 Avantage Software 包含 Knowledge View，这是一套全面的教程与参考资料，指导用户完成分析流程。
Correlative XPS 成像与表面分析工作流程
使用 Thermo Scientific Maps Software，通过相关成像与表面分析工作流程将 XPS 数据与 SEM 图像相关联。
Nexsa G2 Surface Analysis System 规格
| 分析器类型 |
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| X射线源类型 |
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| X射线光斑尺寸 |
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| 深度剖面分析 |
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| 最大样品面积 |
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| 最大样品厚度 |
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真空系统 |
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| 可选配件 |
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XPS 分析资源
Nexsa G2表面分析系统网络研讨会
XPS 分析视频
XPS 分析应用说明
Nexsa G2表面分析系统文档
仅供研究使用。不得用于诊断程序。