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对画架绘画中底层孔隙率的表征:了解其在19世纪及20世纪早期绘画中对吸水率、反应活性和材料运输中所起作用的第一步。瑞士艺术研究所 (SIK-ISEA) 正在研究19世纪末20世纪初瑞士画家的工作室实践,使用的绘画材料以及绘画随时间的老化过程。

此外,这项研究还研究了绘画的底层,底层是涂在适当支撑物上的黏合剂、填料和颜料的混合物,底层是绘画前的准备工作。该研究侧重于探讨底层孔隙度、吸收特性、整体外观和绘画之间的稳定性是否存在联系。

Portrait of Max Leu (detail) by Cuno Amiet, 1899
1899年,Cuno Amiet 绘制的 Max Leu 肖像(局部),油画布上的蛋彩画,50.5 x 60 cm,Kunstmuseum Solothurn。画家在肖像面部实现了哑光表面的效果。

自17世纪末以来的技术资料中可以找到许多用于制备质地薄而吸收性相对较好的底层配方。它们受到多数艺术家喜欢的原因有很多:它们吸收了绘画颜料的部分黏合剂,从而缩短了干燥过程,在底层和绘画颜料之间形成良好的粘附力。从19世纪末起,因底层的吸收性会在绘画表层产生色彩 鲜艳和哑光效果的这一事实,受到那些不再以学院风格进行创作的画家的极大青睐。

在试图表征孔隙度或底层吸收水分的能力时,该研究探了一个亟待解决的保护绘画方面的问题:在绘画颜料叠加过程中因吸收层的存在对绘画的稳定性产生了重要影响。人们已经 发现,在复杂的涂料体系中,水加速反应活性并且借助水分梯度作用材料具有流动性,但从未针对这些问题进行过研究。对吸收性底层结构的表征是研究各层之间材料迁移的第一步。

SIK-ISEA 艺术技术部门与 PSI Villigen 的 TOMCAT 光束线合作的最近研究表明,X 射线断层扫描是研究完整底层样品的内部结构的一个独特且强大的方法。当前研究面临的挑战有两方面,主要是 (i) 精确估算空隙和孔隙的分布以及孔隙网络在微米级的连通性,以及 (ii) 对渗透和通过底层运输水分的情况的可视化。

利用 Avizo 软件对 3D 断层扫描数据集进行研究,该软件通过适当的过滤算法和高级分割工具,实现数据集的可视化和定量分析。

Paint ground sampled
X 射线断层扫描重建了在 Max Leu 肖像画边缘采样的颜料底层的图像。Avizo 软件的分割和过滤工具可以对孔隙网络进行可视化和定量分析,并在此突出显示底层存在的大空隙。

关于 SIK-ISEA

瑞士艺术研究所 (SIK- ISEA) 成立于1951年,是在艺术历史和艺术技术领域享有国际声誉的中心。它的核心活动是研究、记录和传播关于艺术、艺术界和艺术技术的知识和信息。重心是瑞士创造的艺术。2008年启动的研究促进计划将 SIK-ISEA 确立为具有国际视野的高等研究所,并在此过程中为加强瑞士作为研究基地的作用上做出了重大贡献。该研究所是一个非营利性研究机构,以公私营合作方式运作。

关于 Amira & Avizo 3D 软件

Amira 和 Avizo 是高性能 3D 软件,可对来自不同来源和模式的科学和工业数据进行可视化、分析和解读。

图像和文本由  SIK-ISEA 提供

参考文献:Ferreira E. S. B., J .J.Boon, J. van der Horst, N.C.Scherrer, F. Marone and M. Stampanoni, 2009.涂料样品的 3D 同步辐射X射线微结构成像.O3A: Optics for Arts, Architecture, and Archaeology II, edited by Luca Pezzati, Renzo Salimbeni, Proc. of SPIE Vol. 7391, 73910L · © 2009 SPIE · doi: 10.1117/12.827511.图像:SIK-ISEA.