赛默飞ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪强大的多元素分析能力

ICP光谱仪,即电感耦合等离子体光谱仪(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer,ICP-OES),是一种用于分析样品中元素组成的仪器。它利用高温等离子体将样品中的元素激发到发光状态,然后通过检测这些元素发出的特征光谱来确定其含量。

 

ICP-OES技术在20世纪70年代发展起来,现已成为分析化学领域中不可或缺的工具。它具有高灵敏度、宽动态范围和多元素同时分析的能力,广泛应用于环境监测、食品安全、地质勘探、材料科学、冶金工业等领域。

 

利用赛默飞 iCAP PRO 系列 ICP-OES 系统强大的多元素分析能力,确保您的实验室随时应对任何挑战。快速轻松地生成一致、可靠的数据。体验增强的样品通量、基质耐受性和灵活性,生成值得信赖的结果。 



ICP光谱仪的工作原理主要包括以下几个步骤:

  1. 样品引入:样品通常以液体形式通过雾化器引入到等离子体中。雾化器将液体样品转化为细小的雾滴,这些雾滴被载气(通常是氩气)带入等离子体炬管。
  2. 等离子体激发:样品在高温等离子体中被激发,原子和离子发出特征光谱。等离子体由高频电流在氩气中产生,温度可达8000-10000K,足以使样品中的元素离子化并激发到发光状态。
  3. 光谱检测:光谱通过分光系统分离,并由检测器记录。分光系统通常采用光栅或棱镜,将不同波长的光分离开来。检测器(如光电倍增管或CCD)记录各波长的光强度。
  4. 数据处理:通过软件对检测到的光谱进行分析,确定样品中各元素的含量。软件将光谱数据转换为元素浓度,并进行定量分析。

 

ICP电感耦合等离子体发射光谱仪的优势

赛默飞ICP光谱仪具有以下优势:

  1. 高灵敏度:能够检测痕量元素,检测限通常在ppb(十亿分之一)级别。
  2. 宽动态范围:能够同时检测高浓度和低浓度元素,动态范围可达6-7个数量级。
  3. 多元素同时分析:能够在一次分析中同时检测几十种元素,提高分析效率。
  4. 快速分析:分析速度快,通常每个样品的分析时间在几分钟内。
  5. 高精度和高准确度:通过标准曲线和内标校正,能够获得高精度和高准确度的分析结果。

赛默飞iCAP PRO ICP-OES以其高灵敏度和高精度著称,适用于各种复杂样品的元素分析。特别是在固态锂电池技术的突破中,iCAP PRO表现出色,能够精确分析锂电池中的元素组成。

稳健型 ICP-OES 系统 

我们的稳健型 ICP-OES 系统提供易于使用的软件和多元素检测技术,远远优于单元素 AAS 分析和多元素微波等离子体技术。对样品通量要求较低的实验室和该技术的新用户或者需要简单解决方案来进行多元素分析的用户来说,它们是理想选择。

稳健型 ICP-OES 系统

产品特点:

出色的检测:这些 ICP-OES 系统整合了易于使用的软件和多元素检测技术,远远优于单元素 AAS 分析和多元素微波等离子体技术。

易于使用:标准配置了多种优化设置,使这些仪器成为新入门该技术或需求多元素分析简单解决方案之用户的理想选择。

准确度:新的垂直火炬型设计确保了多种样品类型的高基质稳健性,智能全范围 (iFR) 分析模式可以在一次测量中测量整个波长范围,从而简化方法开发和分析,同时不影响灵敏度或准确度。

先进的高通量 ICP-OES 系统 

通过灵敏的多元素检测对高基质微量元素样品进行分析,满足您的数据要求。这些仪器同时包括 iFR 分析模式(可以在一次测量中测量整个波长范围)和 eUV 分析模式(以更高的灵敏度测量光谱紫外区)。

先进的高通量 ICP-OES 系统

高通量 ICP-OES 产品亮点:

一次检测所有元素:高光通量光学与电荷注入器件检测器 (CID821) 的结合,确保尽可能缩短分析时间。使用 iFR 分析模式时,在一次测量中获得完整光谱,缩短分析时间。

先进的性能:对于需要在光谱紫外区实现较高灵敏度以确定汞、锑和铅等元素的苛刻应用,eUV 分析模式可以提高灵敏度,从而确保可轻松满足针对有毒元素的法规。

极大限度缩短分析时间:通过 Thermo Scientific iCAP PRO XPS ICP-OES 体验微量元素样品的高速分析。此产品可以无与伦比的通量和多功能性,满足您的特定法规要求。



赛默飞ICP光谱仪广泛应用于以下领域:

  1. 环境监测:用于检测水、空气和土壤中的重金属和其他污染物。ICP-OES能够快速、准确地分析环境样品中的元素含量,为环境保护提供重要数据支持。
  2. 食品安全:用于检测食品中的重金属和营养元素。ICP-OES能够检测食品中的痕量元素,确保食品安全和营养成分的准确标定。
  3. 地质勘探:用于分析矿石和土壤中的元素组成。ICP-OES能够快速分析地质样品中的元素含量,为矿产资源勘探提供重要数据支持。
  4. 材料科学:用于分析金属、陶瓷和其他材料中的元素组成。ICP-OES能够检测材料中的痕量元素,为材料性能优化提供数据支持。
  5. 冶金工业:用于分析金属和合金中的元素组成。ICP-OES能够检测冶金样品中的元素含量,为冶金工艺优化提供数据支持。

 

ICP电感耦合等离子体发射光谱仪的操作步骤 

ICP光谱仪的操作步骤通常包括以下几个环节:

  1. 样品准备:将样品溶解或稀释成液体形式,确保样品能够通过雾化器引入等离子体。
  2. 仪器校准:使用标准溶液校准仪器,建立标准曲线。标准曲线用于将检测到的光谱数据转换为元素浓度。
  3. 样品引入:将样品通过雾化器引入等离子体,样品在等离子体中被激发并发光。
  4. 光谱检测:分光系统将光谱分离,检测器记录各波长的光强度。
  5. 数据处理:软件对光谱数据进行分析,确定样品中各元素的含量。
  6. 结果报告:生成分析报告,记录样品中各元素的浓度。

 

赛默飞ICP电感耦合等离子体发射仪应用和案例 

1. 稀土永磁产品及中重稀土出口检测解决方案

  • 稀土永磁材料和产品在现代工业中具有重要应用,如电动汽车、风力发电机和电子设备。ICP-OES能够精确检测稀土永磁产品中的稀土元素含量,确保产品质量和性能。
  • 中重稀土的出口检测需要高精度的分析方法,ICP-OES能够提供准确的稀土含量检测,确保产品符合国际标准。

采用赛默飞 iCAP PRO Series ICP-OES这一综合性分析技术平台,凭借其革命性的高光学分辨率中阶梯光栅光学系统设计,配合高像素分辨率检测器,成功克服了传统中阶梯光栅二维分光技术在稀土永磁材料痕量分析中的光学分辨率不足导致的谱线干扰问题、低浓度下的信噪比限制、复杂基体带来的背景干扰等技术瓶颈,可高效实现稀土永磁材料中主量元素及痕量杂质元素的精准测定。该技术为材料性能优化、生产工艺监控和产品质量控制提供了关键的数据支撑。 

 

2. 高基体样品中痕量元素分析利器

  • 高基体样品(如矿石、金属和陶瓷)中痕量元素的检测需要高灵敏度的分析方法。ICP-OES能够在复杂基体中准确检测痕量元素,为工业和环境样品的分析提供重要数据支持。
  • 例如,在矿石分析中,ICP-OES能够检测矿石中的痕量元素,为矿产资源评估提供数据支持。

 

3. iCAP PRO助力固态锂电池技术突破

  • 固态锂电池技术是未来电池技术的重要发展方向,具有高能量密度和安全性。ICP-OES能够精确分析固态锂电池中的元素组成,为电池性能优化提供数据支持。
  • iCAP PRO ICP-OES在固态锂电池技术的突破中表现出色,能够检测电池中的痕量元素,确保电池的高性能和安全性。

赛默飞iCAP PRO Series ICP-OES使用了中阶梯光栅和棱镜二维分光系统结构,业内最佳的恒温光路设计,可保证分析 La Li Zr Nb主含量元素的稳定性,主量元素短期稳定性可获得RSD<0.5%的稳定性,同时分光系统能够去除光谱背景对杂质元素的谱线干扰,杂质元素都可获得不受干扰的分析波长,杂质元素方法检出限低,加标回收率普遍介于90%-110%,确保杂质元素分析结果的准确性;全可拆卸式EMT 炬管设计,确保具有最低的耗材运行成本,成为锂电池行业中多种主量、杂质元素测量需求的最佳选择方案,助力固态锂电池成功商业化量产。 


答:赛默飞ICP光谱仪广泛应用于环境监测、食品安全、地质勘探、材料科学、冶金工业等领域。

答:赛默飞ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱仪)主要用于检测样品中的元素组成,通过检测元素发出的光谱来确定其含量。

ICP-MS(电感耦合等离子体质谱仪)则通过质谱分析样品中的元素,具有更高的灵敏度和更低的检测限,适用于痕量元素分析。

答:Thermo Fisher Scientific 拥有超过三十年设计设计和制造ICP系统的经验。我们提供ICP-OES和ICP-MS产品。我们的ICP-OES产品提供专用的径向和双径向/轴向视图。在我们的ICP-MS产品系列中,我们提供单四极杆和三重四极杆质谱仪以及高分辨率磁扇质谱仪。

答:一般来说,ICP-OES 完全能够达到 USP 第<232>章所要求的检测限。然而,可能会有两个限制因素:由于个别元素 PDE 值的定义,对于给定药品的每日剂量越大,所需的检测限就越低。在需要更高灵敏度的情况下,也有一些方法可以提高 ICP-OES 的检测能力,例如通过氢化物生成系统。这样的系统通常可以提高例如砷(As)的检测灵敏度,从而帮助达到所需的检测限。

答:在 ICP-MS 中,干扰是最值得关注的问题。基本上可以区分两种类型的干扰:光谱干扰和物理干扰。大多数情况下,会观察到多原子干扰,但通常可以通过使用配备碰撞/反应池系统的仪器有效抑制。

其他观察到的干扰是同位素干扰,例如,由样品中存在的两个元素导致,这些元素具有共同的质量数。使用干扰元素的另一个同位素进行数学修正,并通过同位素丰度计算信号贡献,是克服这些干扰的一种方法。

双电荷离子可能会干扰某些元素,尤其是当样品中存在高浓度的低第二电离势元素时,例如,稀土元素之一的钐(Sm),它会在 m/Z 75 处干扰砷的检测。

此外,电离效应可能会导致假阳性,例如,如果样品中存在碳(例如,将含糖产品直接溶解在水中),砷可能会显示出较高的响应。微波消解的样品通常不受影响。

答:赛默飞ICP-OES 和 ICP-MS 都可以获取完整光谱以识别样品中存在的所有元素。此功能不仅对方法开发有用,因为它有助于识别干扰的来源,还可以作为基于风险的测试方法的一部分。如果供应商为给定元素发布证书,这些元素可以从定量测试中移除,而改为系统地在抽查测试中筛选,以确保始终符合要求。 

答:选择适合的ICP光谱仪需要考虑样品类型、分析需求、检测限要求以及预算等因素。赛默飞iCAP PRO ICP-OES适用于需要高灵敏度和高精度的复杂样品分析。

答:定期清洁雾化器和等离子体炬管,确保样品引入系统的畅通。

定期校准仪器,确保检测结果的准确性。

答:赛默飞ICP光谱仪的操作步骤包括:

  • 样品准备:将样品溶解或稀释成液体形式,确保样品能够通过雾化器引入等离子体。
  • 仪器校准:使用标准溶液校准仪器,建立标准曲线。标准曲线用于将检测到的光谱数据转换为元素浓度。
  • 样品引入:将样品通过雾化器引入等离子体,样品在等离子体中被激发并发光。
  • 光谱检测:分光系统将光谱分离,检测器记录各波长的光强度。
  • 数据处理:软件对光谱数据进行分析,确定样品中各元素的含量。
  • 结果报告:生成分析报告,记录样品中各元素的浓度。

通过以上介绍,希望您对ICP光谱仪有了更全面的了解。如果有更多问题或需要进一步的技术支持,请随时联系我们。