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电子显微镜
电子显微镜是利用电子束获得标本的高分辨率图像的高倍显微镜仪器。产品包括使用透射和扫描等多种技术的仪器以及显微镜附件和用品。
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Helios 5 Hydra UX DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra UX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。
用于半导体的 Helios™ NanoLab™ 1200AT DualBeam™ Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ NanoLab 1200AT DualBeam™ 可以创建足够薄的位点特异性透射电子显微镜 (TEM) 样品，以从直径达 300 mm 的晶片中在 10 nm 节点处捕获单个晶体管。可选的自动 FOUP 装载器 (AFL) 允许系统位于半导体晶片制造厂内部，在那里它可以提供比基于实验室的分析快达三倍的关键信息。
用于半导体的 Helios™ G4 HX DualBeam™ Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ G4 HX DualBeam™ 显微镜取代了高度成功的 Helios 460HP，成为行业较高通量、专用透射电子显微镜 (TEM) 片晶制备平台。Helios G4 HX DualBeam 利用具有专利权的倒置 TEM 样品制备方法，为较先进的半导体节点创建高质量的片晶。Helios G4 HX DualBeam 集成了 EasyLift EX 纳米机械手、新型自动 QuickFlip 穿梭器和 iFast 自动化软件平台，通过完全集成的自动化解决方案，为失效分析实验室提供了相当高的价值。通过低损耗透镜内检测器实现的材料对比度改善，以及在低...
Phenom™ 颗粒 X AM 台式 SEM Thermo Scientific™
用于增材制造业的 赛默飞科技™ 飞纳™ particleX 扫描电子显微镜 (SEM) 是一种多用途台式 SEM，可在微尺度下提供样品纯度信息。 可对您的数据实现内部控制。监控金属粉末关键特性。识别颗粒大小分布、单个颗粒形态以及异物颗粒。
Phenom™ Pro 台式 SEM Thermo Scientific™
第六代 Thermo Scientific™ Phenom™ Pro G6 台式 SEM 可填补光学显微镜和落地式 SEM 分析之间的差距，从而扩展研究设施的能力。快速而易于使用的 Phenom Pro G6 Desktop SEM 可减轻落地式 SEM 仪器常见样品的常规分析负担。仪器配置和样品加载机制可确保快速成像，并在两次实验之间花费最少的时间进行调整。
用于生命科学的 Krios G4 Cryo-TEM Thermo Scientific™
在此处查找其他信息：Thermo Scientific™ Krios™ G4 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) 新型 Thermo Scientific™ Krios™ G4 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) 使您能够—轻松、快速、可靠地进行分子水平生命探究。Krios G4 冷冻透射电镜是同类产品中极小巧的透射电镜，它由高度稳定的 300 kV 透射电镜平台和行业领先的自动上样器（冷冻样品操作机器人）组成，非常适合自动化应用，如单颗粒分析 (SPA)、冷冻电子断层扫描 (cryoET) 和微电子衍射...
用于材料科学的 Helios™ G4 PFIB UXe DualBeam™ FIB/SEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ G4 PFIB 可提供无与伦比的大体积 3D 表征、无 Ga+ 样品制备和精密微加工能力。Helios G4 PFIB UXe 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一种。它将新型 PFIB 2.0 镜筒和 Thermo Scientific™ 单色 Elstar™ SEM 镜筒相结合，可实现卓越的聚焦离子和电子束性能。 直观的软件和前所未有的自动化水平和易用性可以让科学家和工程师可视化分析相关的亚表面体积信息。
材料科学用 Apreo™ 2 SEM Thermo Scientific™
新的 Thermo Scientific™ Apreo 2 SEM 经扩展可访问高性能成像以及针对所有级别显微镜专业知识的分析。凭借 Thermo Scientific™ ColorSEM 技术这一独特的实时元素成像功能，可以通过最直观的界面随时获得组分信息。ColorSEM 技术消除了与典型 EDS 实施相关的所有麻烦，为您提供前所未有的结果时间和易用性。
用于半导体的 Helios G4 UX DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™ 显微镜的较新技术创新，结合较易使用、较全面的软件和赛默飞世尔科技的应用专业知识，可为广泛的材料较快速、较容易地制备位点特异性、超薄 HR-S/TEM 样品。为了获得较高的质量结果，需要使用非常低能量的离子进行最终抛光，以尽可能减少对样品表面的损坏。Thermo Scientific 较先进的 Phoenix 聚焦离子束 (FIB) 镜筒不仅提供高电压下的高分辨率成像和铣削，而且现在将卓越的 FIB 性能扩展到低至 500 V 的加速电压，从而能够制备具有亚纳米损伤层的超薄 TEM 片晶。
Tundra Cryo-TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific Tundra 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) 是一种特制的结构测定解决方案，旨在为每个生物化学实验室提供单颗粒分析技术。它比典型的 cryo-TEM 仪器更易于使用，适合标准实验室空间，并与全球资助机制和融资机会相匹配。Tundra Cryo-TEM 是一个强大的工具，可以帮助您解决极具挑战性的研究问题，以具有一定生物学意义的分辨率进行结构测定。 了解有关 Tundra Cryo-TEM 的更多信息
用于材料科学的 Talos™ F200S TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Talos™ F200S 扫描/透射电子显微镜将出色的高分辨率 S/TEM 成像与行业前列的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 相结合。Talos F200S S/TEM 具有较强多功能性和较高通量的 STEM 成像功能。它可以进行较精确的 EDS 分析和较佳的动态显微镜 HRTEM。Talos F200S S/TEM 可完成所有这些工作，同时还可提供较高的稳定性和较长的正常运行时间。
用于生命科学的 Talos™ F200C TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Talos™ F200C 透射电子显微镜 (TEM) 是一款强大的多功能系统，可为细胞生物学、结构生物学和纳米技术研究中的生物和生物材料样品提供 3D 表征。Talos F200C TEM 具有创新的设计来提高通量、稳定性和易用性，使科学家们能够快速深入地了解大分子结构、细胞成分、细胞和组织的三维结构和形貌。
Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜 Thermo Scientific™
冷冻电子断层扫描 (cryo-ET) 可让您深入观察细胞内部，但若要获得清晰可靠的结果，则依赖于高质量冷冻薄片的制备。Thermo Scientific Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜 (Cryo-PFIB) 专为从玻璃化细胞中自动、高通量制备冷冻薄片而设计。其自动上样系统在断层扫描工作流程中冷冻聚焦离子束扫描电镜样品制备和冷冻透射电镜 (cryo-TEM) 这2个步骤间建立了独特而直接的联系。 在此了解更多信息：Arctis Cryo-FIB
用于材料科学的 Themis™ ETEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Themis™ ETEM 建立在久经考验的 Titan ETEM 概念之上，将标准 S/TEM 和专用环境 TEM 能力结合在一起，可用于时间分辨的纳米材料动态行为原位研究。Themis ETEM 是用于原位实验（例如将纳米结构暴露于气态反应/操作环境中）的集成式平台。
Helios 5 EXL DualBeam Thermo Scientific™
采用 Helios 5 EXL DualBeam FIB SEM 进行 TEM 样品制备是自动化的，基于晶圆，可分析先进 5 nm 半导体节点等。
共焦样品支架 Thermo Scientific™
在许多 SEM 应用中，如果样品可以倾斜和旋转，用户可以更深入地了解样品特性。考虑到这一点，专门为 Phenom XL 开发了 Thermo Scientific™ 全对中样品支架。支架包含一个子载物台，允许用户轻松安全地从所有侧面观察样品。
Aquilos 2 冷冻FIB Thermo Scientific™
更多信息可参见：Thermo Scientific Aquilos2 冷冻FIB Thermo Scientific Aquilos 2 冷冻FIB 是我们的最新一代低温-DualBeam 系统。它专用于为高分辨率低温电子断层扫描或微晶 MicroED 制备电子透明的片晶。
Axia™ ChemiSEM™ 扫描电子显微镜 Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Axia™ ChemiSEM™ 扫描电子显微镜与传统 SEM 的不同之处在于其始终在后台中收集 EDS 数据。它使用独特的算法同时处理 SEM 和 EDS 信号，从而可以实时显示样品的形态和元素组成。它在后台持续处理 EDS 数据、实时提供更新的元素数据。样品中发现的元素可以被打开和关闭，以便您分离目标区域。 Axia ChemiSEM 扫描电子显微镜通过自动化增强了用户体验，例如，实现无对准操作的 SmartAlign 技术、新开发的自动功能和现场定量 EDS 绘图。与传统方法相比、这种始终在线的处理方式使分析速度提高一倍。Axia ChemiSEM...
Centrios HX 电路编辑系统 Thermo Scientific™
Centrios HX 系统采用全新的 Thermo Scientific Celta 聚焦离子束 (FIB) 柱，在低束电流和低着陆能量下实现高分辨率，以便您准确编辑并极大限度地减少电路损坏。Centrios HX 系统采用创新的双喷嘴气体输送系统，结合极广泛的化学品产品组合以及较新的 FIB 技术，可实现行业领先的高精度蚀刻和快速、高效的编辑。
Ceta D 相机 Thermo Scientific™
请在此处查找更多信息：Thermo Scientific™ Ceta™ Thermo Scientific™ Ceta™ 是一款适合高剂量和低剂量应用的多功能通用相机。因为它具有全面的性能，所以适合多种应用。结合直接电子相机一起使用时，它是进行筛选和搜索的理想相机。
微工具样品支架 Thermo Scientific™
可使用 Thermo Scientific™ 微型工具样品支架对长轴向形状样品进行成像，无需修饰样品。使用微型工具样品支架，可对物体（如钻头、铣削工具和注射针）快速简便地成像。通过旋转和倾斜目标区域而不从支架上卸载样品，可以实现成像涂层和切割角度。
电动倾斜和旋转样品杆 Thermo Scientific™
现在可以使用 Thermo Scientific™ 电动倾斜和旋转样品支架揭示样品上所有隐藏的重要特征。样品可以有线条和孔，也可以有多层结构。新的电动倾斜和旋转样品支架允许从所有可见的侧面分析样品，并恶报获得样品独特 3D 图像。
用于材料科学的 Helios 5 CX DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ 5 CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，结合了创新的 Elstar™ 电子镜筒（可实现较高分辨率成像和较高的材料对比度）与卓越的 Thermo Scientific™ Tomahawk HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒（用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备）。除了极其先进的电子和离子光学系统，Helios 5 CX DualBeam 还采用了一套极先进的技术，该技术能够实现简单、一致的高分辨率 S/TEM 和原子探针断层扫描...
Helios 5 PFIB UXe DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios 5 PFIB Uxe 可提供优异的大体积 3D 表征、无 Ga+ 样品制备和精密微加工能力。Helios 5 PFIB UXe 是行业领先的 Helios DualBeam™ 系列第五代产品的一部分。它将新型 PFIB 镜筒和单色 Thermo Scientific Elstar™ SEM 镜筒相结合，可实现卓越的聚焦离子和电子束性能。直观的软件和前所未有的自动化水平和易用性可以让科学家和工程师观察和分析相关的亚表面体积信息。
Helios 5 PFIB CXe DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios 5 PFIB Cxe 可提供优异的大体积 3D 表征、无 Ga+ 样品制备和精密微加工能力。Helios 5 PFIB CXe 是行业领先的 Helios DualBeam™ 系列第五代产品的一部分。它将新型 PFIB 镜筒和单色 Thermo Scientific Elstar™ SEM 镜筒相结合，可实现卓越的聚焦离子和电子束性能。直观的软件和前所未有的自动化水平和易用性可以让科学家和工程师观察和分析相关的亚表面体积信息。
用于材料科学的 Helios 5 UC DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ 5 UC DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，将创新的 Elstar™ 电子镜筒与高电流 UC + 技术结合，以实现较高分辨率成像和较高的材料对比度，与优越的 Thermo Scientific Tomahawk HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒结合，用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备。除了极其先进的电子和离子光学系统，Helios 5 UC DualBeam 还采用了一套极先进的技术，该技术能够实现简单、一致的高分辨率 S/TEM...
用于半导体的 Helios G4 CX DualBeam Thermo Scientific™
通常需要进行亚表面或三维表征以更好地理解样品的结构和性质。Thermo Scientific™ Helios™ G4 CX DualBeam™ 显微镜的最新技术创新，结合较易使用、较全面的软件和赛默飞世尔科技的应用专业知识，使 Helios G4 CX DualBeam 与可选的 AS&V4 软件可获得较高质量、全自动采集的多模态 3D 数据集。结合 Avizo 可视化软件，它可提供独特的工作流程解决方案，实现纳米级的极高分辨率、先进的 3D 表征和分析。
用于半导体的 Helios™ G4 PFIB Hxe DualBeam™ Thermo Scientific™
Thermo Scientific Helios G4 PFIB HXe DualBeam 系统提供独特的功能，除广泛的其他大面积 FIB 处理应用外，还能够实现 10 nm 半导体器件的无损伤延迟和 3D 封装的高级故障分析。
用于材料科学的 Helios 5 UX DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Helios™ 5 UX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，将创新的 Elstar™ 电子镜筒与高电流 UC + 技术结合，以实现较高分辨率成像和较高的材料对比度，与优越的 Thermo Scientific™ Phoenix™ 聚焦离子束 (FIB) 镜筒结合，用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备。除了极其先进的电子和离子光学系统，Helios 5 UX DualBeam 还采用了一套极先进的技术，该技术能够实现简单、一致的高分辨率 S/TEM...
用于半导体的 Helios™ G4 PFIB CXe DualBeam™ Thermo Scientific™
Helios G4 PFIB CXe DualBeam 系统使您能够： 使用具有高电流 UC+ 单色器技术的一流 Elstar™ SEM 电子镜筒，可获得纳米级 SEM 图像分辨率和表面灵敏度，从而显示较为细致的细节信息。 使用新一代 2.5 微安 氙等离子体 FIB (PFIB 2.0) 镜筒，可进行较高通量和质量相关 3D 表征、横向切片和微加工。 由于 PFIB 2.0 镜筒在所有操作条件下均具有优越的性能且有 TEM 样品制备工作流程的指导，因此可制备高质量的无 Ga+ TEM 样品。 使用自动摇摆研磨机，可实现高产率、无屏障大面积横向切片制备并获得高质量 TEM 片晶。...
用于半导体的 Helios G4 PFIB UXe DualBeam Thermo Scientific™
Thermo Scientific Helios G4 PFIB UXe DualBeam 系统提供独特的功能，除广泛的其他大面积 FIB 处理应用外，还能够实现半导体器件的无损伤延迟和 3D 封装的高级故障分析。
Nebula 颗粒分散剂 Thermo Scientific™
借助 Thermo Scientific™ Nebula™ 微粒分散剂，一种在 SEM 残端上均匀分布干粉的标准方法变得可行。Nebula 通过获得单层微粒可确保较佳的样品制备，避免出现微粒簇，同时维持了脆弱微粒的结构。
用于材料科学的 Talos™ L120C TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Talos L120C TEM 是一款 20-120 kV 的热场（扫描）透射电子显微镜，专为在各种样品和应用（例如，在常温和低温条件下对细胞、细胞器、石棉、聚合物和软材料进行 2D 和 3D 成像）中提高表征性能和工作效率而设计。Talos L120C TEM 经从头设计，可使任何技能水平的用户只需执行极少的工作便可快速获得高质量的结果。快速、精密的自动化和先进的 3D 成像工作流程让应用研究人员可以专注于科学问题，而不是显微镜操作。
Talos™ F200i TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Talos F200i (S)TEM 是一款 20-200 kV 场发射（扫描）透射电子显微镜，专为多种材料科学样品和应用要求的性能和生产率而设计。其标准的 X-Twin 极靴间距 — 在应用中具有较高的灵活性 — 与高可重复性能的电子镜筒相结合，为高分辨率 2D 和 3D 表征、原位动态观察和衍射应用提供了可能。 有关其他信息，请查看此处：Talos F200i TEM
Talos™ F200X G2 TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Talos™ F200X 是一款扫描透射电子显微镜 (S)TEM，其将出色的高分辨率 (S)TEM 和 TEM 成像与能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。采用构合映射的 2D/3D 化学表征由具有独特清洁度的 4 个柱内 SDD Super-X 探头执行。Talos F200X (S)TEM 可实现较快、较精确的所有维度 EDS 分析，以及用于动态显微镜的快速导航和较低的环境敏感度。 在此处查找其他信息：Talos F200X G2 TEM
用于半导体的 Themis™ S S/TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Themis™ S S/TEM 是一款 80–200kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)，专为半导体设备的高速成像和分析而设计。Themis S TEM 作为业界标准 Themis 系列新成员，将继承较佳空间分辨率和较高效化学分析的独特组合。
用于生命科学的 Talos™ L120C TEM Thermo Scientific™
在此处查找其他信息： Thermo Scientific™ Talos™ L120C 透射电子显微镜 (TEM) 发现新一代 120kV 成像平台。Thermo Scientific™ Talos™ L120C 透射电子显微镜 (TEM) 的主要特点包括具有模块化设计和优化的光学稳定性，实现了出色的易用性、生产率、操作舒适性及正常运行时间。Talos L120C TEM 是入门级冷冻电镜研究的理想选择，具备简单的点击式成像操作，可高效地进行断层扫描和单颗粒分析样品筛选，并带有 EDS 和 STEM 独立选件。
面向生命科学领域的 Volumescope™ SEM Thermo Scientific™
来自大样本体积的高质量的各向同性3D数据Thermo Scientific™ VolumeScope™ 扫描电子显微镜 (SEM) 是一款新型连续切面成像解决方案，通过多能反卷积 SEM 结合原位切片的高效率，来实现极佳的 z 轴分辨率。VolumeScope SEM 揭示了细胞和组织在自然环境下的复杂三维结构，这对理解生物系统的结构-功能相关性至关重要。VolumeScope SEM 的自动化和易用性提高了不同专业水平的操作人员的效率，从而能够在各向同性分辨率下获取大样本量。
uPolisher Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ μPolisher 系统是一种独特的解决方案，适用于原位、较低能量的局部表面修饰，包括抛光和清洗散装样品。系统使用带可调节能量和各种离子电流的静态气体 Ar+ 离子束，以确保在各种应用中进行温和的表面抛光。
用于生命科学的 Vitrobot Thermo Scientific™
请在此处查找更多信息：Thermo Scientific™ Vitrobot™ Thermo Scientific™ Vitrobot™ 实现了全自动化的玻璃化工艺，可提供快速、简单、可重现的样品制备 - 这是获得高质量图像和可重复实验结果的首要步骤。
材料科学用 Prisma™ E SEM Thermo Scientific™
多用户实验室较完整的 SEM，需要全面的性能和易用性。Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM 是首款采用独特的 ColorSEM™ 技术进行较直观的元素分析的 SEM。结合独特的环境模式 (ESEM) 和全系列配件，它是可用的较完整的钨 SEM。它是需要高分辨率、样品灵活性和易于使用的操作界面工业研发、质量控制和故障分析应用的理想选择。Prisma E 延续了非常成功的 Thermo Scientific™ Quanta™ SEM。
适用于半导体的 Spectra 300 S/TEM Thermo Scientific™
作为同类产品中较快、较可靠的仪器，Thermo Scientific™ Spectra 300 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 为半导体材料和半导体失效分析的研究提供了前所未有的性能。凭借高亮度场发射枪 (X-FEG) 和易于使用的软件的独特组合，您现在可以掌握 7 nm 或更小节点设备等先进产品的使用。凭借产生快速 EDS 绘图（无任何空间分辨率的损失）、以及电子能量损失谱 (EELS) 和低 kV 分析的能力，它是适用于工业应用的理想高端 S/TEM 解决方案。
树脂安装插件 Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ 树脂安装插件具有一些独特的优势。样品夹持非常直，所有样品都具有相同的工作距离，这在进行能谱 (EDS) 分析时非常有用。
用于生命科学的 Scios™ DualBeam Thermo Scientific™
凭借其独特灵活的检测方案，Thermo Scientific™ Scios™ DualBeam™ 可在高采集速度和高分辨率及低 kV 下，以出色的对比度同时检测所有信息。这使其成为对广泛样品成像的理想选择，包括非常敏感的材料。全自动镜筒校准降低了对训练有素的操作员的需求，而针对常见条件的预定义用例为每个人提供了即时生产力，这与多用户设施尤其相关。
用于材料科学的 Scios™ 2 DualBeam™ Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Scios™ 2 DualBeam™ 是一种超高分辨率分析 FIB-SEM 系统，可为较广泛的样品（包括磁性和非导电材料）提供出色的样品制备和 3D 表征性能。通过创新性的功能设计以提高通量、精度以及易用性，Scios 2 DualBeam 是满足科学家和工程师在学术、政府以及工业研究领域高级研究和分析需求的理想解决方案。
Phenom™ Pure 台式 SEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Phenom™ Pure 台式 SEM（扫描电子显微镜）是从光学到电子显微镜转换的理想工具。它是极为经济的高分辨率成像解决方案，可提供一流的成像结果。
Metallurgical样品支架 Thermo Scientific™
该 Thermo Scientific™ 样品支架的底座与标准样品支架的底座相同，只是该支架设计用于支撑使用树脂安装的样品。该支架是用于金相学和与插件配合使用时的首选解决方案。
Metrios 6 (S)TEM Thermo Scientific™
(S)TEM reference metrology for the semiconductor industry. The Metrios (S)TEM offers fully automated reference metrology for enhanced throughput, repeatability, and scalability in high-volume semiconductor analysis. Find out more about Metrios 6 (S)TEM
用于半导体的 Metrios AX S/TEM Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)，它采用全新设计，能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量结果。Metrios AX S/TEM 配有一套软件，可支持提升生产率的自动化功能、基于机器学习的导航和全天候自动化等功能，确保您成功应对当前面临的挑战，并为您提供未来设计节点的路线图。
Spectra 200 S/TEM 用于材料科学 Thermo Scientific™
适用于各种材料科学应用的高通量平台。科学家们为了更好地了解复杂样品并开发新材料，他们需要具有相应构造与功能的设备不但能够分辨空间、时间和频率，而且可靠精确。Thermo Scientific™ Spectra™ 200 扫描透射电子显微镜 (S/TEM) 是一款高通量、像差校正的扫描透射电子显微镜，适用于所有材料科学应用。
Phenom particleX 钢制台式 SEM Thermo Scientific™
Phenom particleX 钢台式 SEM 是一种联合 SEM 成像和 EDS 分析的仪器，用于钢铁制造中的质量控制，具有行业专用软件，旨在快速简便地提供高质量的数据用于夹杂物、故障和失效分析。
VitroEase™ 培训套件 Thermo Scientific™
Thermo Scientific VitroEase Cryo-EM 培训套件提供了完整的解决方案，包括成功制备冷冻电镜单颗粒分析用网格的详细说明。 VitroEase Cryo-EM 培训套件的特点包括： •完整—包含去铁铁蛋白阳性对照样品、网格、附件和成功制备 Cryo-EM 网格的说明 • 经验证—去铁铁蛋白对照蛋白的生产经过优化，专为成功用于 Cryo-EM 网格样品制备和分析而制定 • 高质量—网格和附件的来源值得信赖 • 便捷—即用型蛋白标准品，附带网格制备的分步说明 样品制备是冷冻电镜 (cryo-EM) 单颗粒分析 (SPA)...
用于集成电路的 Centrios 高级电路编辑系统 Thermo Scientific™
Thermo Scientific™ Centrios™ 高级电路编辑系统可实现对 14 nm 及以上设计规则设备进行快速原型设计和首次硅调试和修复。它可支持高级的前面和背侧编辑，具有卓越的编辑控件和精确度。Centrios 系统使用创新且具有双喷嘴的气体输送系统，具有极广泛的化学产品组合和最新的 FIB 技术，在高级集成电路上提供快速、高效和高性价比的编辑，以缩短上市时间。
滤芯 Thermo Scientific™
通常用于过滤器残留分析和石棉分析的滤纸样品必须牢固且平坦地安装在 SEM 系统中，以进行正确分析。由于滤纸是一种敏感的样品材料，不使用插件安装这些样品可能会导致样品折叠和损坏。使用传统的（通常是高粘性的）碳胶带不能实现样品在后续分析中重新使用。适用于 Thermo Scientifc™ Phenom™ XL 的 Thermo Scientifc™ 过滤器插件有两种型号，支持 47 mm（1.85 英寸）和 25 mm（1 英寸）过滤器，这意味着 Phenom XL 可以容纳较常见的滤纸尺寸。
CleanMill Broad Ion Beam System Thermo Scientific™
High-quality observation and characterization of materials often require an artifact-free surface, which can be difficult to achieve with traditional polishing techniques like grinding or mechanical polishing.
用于生命科学的 Glacios™ 2 Cryo-TEM Thermo Scientific™
在此处查找其他信息：Thermo Scientific™ Glacios™ 2 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) Thermo Scientific™ Glacios™ 2 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) 为高分辨率、高通量大分子结构测定提供了完整的解决方案。其具有 200 kV XFEG 光学器件、行业领先的自动上样器（低温样品操作机器人）以及同样的创新自动化，以便轻松用作 Krios G4 Cryo-TEM。Glacios Cryo-TEM...
