Scanning Electron Microscope | Verios 5 XHR SEM | High Resolution SEM |

我们性能最强的扫描电子显微镜：具备亚纳米分辨率与超高衬度

借助 Thermo Scientific Verios 5 XHR SEM，我们正在不断突破扫描电子显微镜可实现能力的边界。因此，如果你正处于科学研究与发现的前沿，该系统将帮助你获得卓越洞察。不妨加入我们。

该系统的核心优势在于：在 1 keV 至 30 keV 的完整能量范围内实现亚纳米分辨率，并结合高衬度成像；同时标准配备两套高精度压电样品台（piezo stages），带来卓越稳定性与一致、可量化的结果。

此外，它还通过先进自动化帮助你和团队以更快、更高效的方式完成表征。例如，我们的 SmartAlign 技术无需用户对镜筒进行任何对中/对准操作。

易获取且易于使用，Verios 5 XHR SEM 真正将“极致 SEM 性能”变为现实。

借助独特的三重探测系统与镜下探测器，可在低至 20 eV 的落地能量（landing energy）下实现亚纳米性能与高对比度。

通过自动化功能与设置，设备维护与对准变得更容易，为任何用户提供高性能表现。

借助该系统先进的探测器套件，可轻松实现低电子束剂量运行并选择最优衬度。

以强大的数据分析解决方案、并以最少的投入与干预，加速你的科学发现。

想进一步了解 Verios 5 XHR SEM？探索丰富资源，从电子书到数据表一应俱全。

通过我们的应用说明、视频、网络研讨会及其他实用资源合集，了解更多材料表征与分析知识。

仅供科研使用。不得用于诊断用途。