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可以实现成本节约、工艺优化和更安全工人环境的先进技术。
如果运用得当，各种技术有助于矿业、煤炭及矿物加工作业以更高效、安全的方式运行并获得更高利润。这些成熟可靠的技术在作业的每一步骤均得到有效应用，以实现工艺效率、为实时和长期决策提供更有用的信息、改善产品质量、确保工人健康和安全、降低成本并满足日益严苛的环境和法规要求。并且由于我们在采矿和矿物行业拥有丰富的经验，您大可放心，这些技术会得到有效部署，并侧重于提高运营利润。
个人粉尘监测（TEOM 技术）
颗粒物监测系统用于通过监测个人对粉尘和悬浮碎屑的暴露情况来保护矿工的健康。 我们的个人粉尘监测系统采用锥形元件振荡微天平 (TEOM) 技术，属于“测重”仪器，以恒定的流速抽取（然后加热）环境空气通过过滤器，然后持续称重过滤器并计算近实时颗粒物质量浓度。
TEOM 监测仪技术依赖固定在空心锥管末端的可更换滤芯。当颗粒物沉积在过滤器上时，会检测到表现为管振荡频率变化的过滤器质量变化。因此，可以直接测定颗粒物的质量。如果将该质量变化与穿过系统的流速相结合，监测仪可以实时获得颗粒物浓度的准确测量值。该方法的主要优点是，气溶胶特性的任何变化都不会影响质量测量的准确度。
配煤技术
适用于采矿作业的高级材料分析仪器在效率和盈利能力方面都有着前所未有的改进。 这些改进可通过专用软件和信息设备而进一步扩展。 我们的 COBOS 解决方案通过持续监测煤质和成份的软件来控制分选和配煤设备。
连续排放监测系统
许多矿场利用燃煤发电厂生产所需能量。 煤燃烧会释放许多污染物，其中包括二氧化硫 (SO2) 和各种颗粒物质。这些发电厂的烟囱还会排放温室气体，如二氧化碳 (CO2) 和甲烷 (CH4)，这些气体对环境和健康有害。
连续排放监测系统 (CEMS) 用于监测这些有害物质，从而使发电厂能够在必要时减少排放并满足监管要求。该系统包括安装在烟囱中的探头，用于将气体输送至掩蔽处的分析仪。
中子活化瞬发 γ 射线分析 / 脉冲快热中子活化分析 (PGNAA/PFTNA) 技术
PGNAA/PFTNA 技术用于在工艺优化中实时控制质量，可为整个原料加工流程完成高频次的在线元素分析。PGNAA/PFTNA 分析仪直接安装在传送带上，贯穿整个原料横截面，可对全部物料流进行实时（每分钟）的均匀分析，而不仅仅限于一个样品。
与 X 射线荧光 (XRF)、 X 射线衍射 (XRD)等仅能测量有限深度和物料表面的分析技术相比，能够同时分析皮带上所有材料的PGNAA/PFTNA 技术具有独特的优势。
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辐射检测
采矿行业和使用开采的矿物和材料作为原材料的行业都可暴露于各种天然存在的辐射源。 例如，煤炭包含微量的自然存在的放射性元素。同时，随着放射性测量和分析技术（例如 X 射线和伽马射线分析仪）在采矿作业中的广泛应用，暴露可能性会急剧增加。 天然和人造辐射源都有潜在的危险。如果管理不当、可能会危及生命。
在整个过程中检测各类辐射，对于员工安全和质量控制来说至关重要。 辐射检测技术可使用多个设备实现，而其中的每一设备可能只适合监测相应的辐射类型、环境条件和辐射源。
手持式辐射检测设备可实时检测伽马辐射并提供准确的剂量率测量值，验证放射性检测结果，并评价放射性来自天然或人造来源。可穿戴的便携式设备具有高度灵敏的中子响应和警报阈值，可用于监测伽马灵敏度和测量能量补偿剂量率。
X 射线衍射 (XRD)
X 射线衍射 (XRD) 是最有效的无损工具之一，用于鉴定和表征多晶材料的结晶学、多态结构、相和结晶度变化。根据布拉格定律测量一次 X 射线束的衍射角（λ = 2d sinθ，其中 λ：波长，d：d 间距，θ：衍射角），可以表征和鉴定许多研究和工业应用领域的各种多晶材料。
这些 XRD 解决方案通常用于地质样品，包括矿物的完整相分析。
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能量色散 X 射线荧光与采样技术 (EDXRF)
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是一种便捷的技术，可筛选包括矿浆在内的各种材料，以便在只需少量或不需要样品制备的情况下对元素进行快速鉴定和定量。EDXRF 设计用于同时分析多组元素。此类 XRF 仪器将不同元素的特征性 X 射线分离为完整的荧光能量光谱，然后进行定性或定量分析处理。位于样品和检测器之间的滤光片用于改善信号、减少背景和聚焦光谱的某些区域。EDXRF 仪器可具有两种类型的激发几何结构之一：直接激发（或称 2D 光学）和间接激发（也称 3D 光学）。这些几何结构的目的是去除光谱中特征元素线下方的背景和提高峰背比（峰噪比）。两种类型均依赖能量色散检测器和 X 射线管；不同之处在于光路。
波长色散 X 射线荧光 (WDXRF)
波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 是一种成熟的元素分析技术，适用于多种样品中从碳到铀的各种地质材料，准确、精确并且可靠。WDXRF 技术使用晶体将荧光光谱分离成每个元素的单个波长，从而获得高分辨率和低背景的光谱，实现元素浓度的准确测定。除了具有重要经济意义的元素外，WDXRF 还可以鉴定和量化可能对最终产品或环境产生不利影响的有毒或不良元素或化合物。
X 射线荧光 (XRF)
X 射线荧光光谱 (XRF) 是一种用于鉴定物料中元素组成的无损分析技术。XRF 分析仪可测量样品在一次 X 射线源激发后发射的荧光（或二次） X 射线而完成分析。样品中的各种元素都会产生一组特征荧光 X 射线，也叫做“唯一指纹”。每种元素的指纹都不一样，因而让 XRF 分析成为绝佳的定量和定性测量工具。
手持式 XRF 分析仪是一种可靠的方法，可分析露天矿坑和地下矿山样品，并达到为工艺监督、质量保证和各种其他运营决策（如品位控制）提供可靠信息所需的准确度。便携式 XRF 技术有助于确定较低品位资源的可行性并找到局部高品位富集物、从废物边界标示矿石以降低挖掘的随机性，以及获得合理的数据并尽量减少将样品送往外部测试实验室的需求。
