纳米颗粒分析

从食品添加剂到高性能金属以及用于工艺优化的催化剂的各种不同材料中均存在纳米大小的颗粒。作为提高日常材料性能过程的一部分,纳米颗粒的表征涉及纳米尺度上结构的探索和操纵。量化这些日常物体中纳米颗粒的组分、大小和形状是进一步了解纳米颗粒、性能、质量和安全之间关系的关键第一步。

自动化 纳米颗粒分析

Thermo Scientific 自动化颗粒工作流程 (APW) 通过提供可优化化学分析工作流程的整套软件包而改进了工业、学界和政府实验室的研究和产品开发过程。

APW 是自动化(从采集到自动化处理)整个工作流程的唯一解决方案。使用 APW 后,您可在较大面积内快速采集统计学相关的高分辨率(纳米级)结果。APW 与 Thermo Scientific Talos (S)TEM 和 Thermo Scientific Spectra (S)TEM 仪器以及 Thermo Scientific Maps EDS 软件的无缝集成使得我们能够获得更多统计信息的数据(总计 50 与每小时 >500 相比),同时也简化了流程。


优化化学分析的动态软件集成

更高的生产率

APW  可 助您     快速获得结果。 APW 的完全自动化解决        方案可通过支持快速筛选新产品和工艺而加速数据收集,从而能够在更短的时间内分析更多样本。

APW 可通过隔夜完成自动化常规纳米级成像和化学分析 任务而提高 TEM 的生产率。这种新发现的可用性可将 TEM 解放&     出来用于其他研发,从而可更加智能地寻找材料,获得更高最终产量,并且加速新产品的研究。

降低 每次测量成本

APW 可以通过  无人值守 的可重复流程降低每次测量的成本。其自动化功能允许 您 快速运行复杂的      工作流程,且没有人工流程中固有的人为误差,从而让流程更快、结果更精确。

自动化操作和无人值守提供更大的易用性

APW 易于使用,因此您无需成为显微镜专家即可利用其优势。无论您的经验水平如何,您都将能够更加关注您的材料而不是工具。APW 可与现有工作流集成并增加了自动化功能,因而不仅高效和对用户友好,也可在无人值守下运行。

多种实验

您 可对许多不同类型的材料进行多种实验。 APW 支持的实验技术包括能量色散 X 射线光谱 (EDS) 以及与金属、催化、食品、涂料、石棉等 相关的研究。 APW 收集和分析的数据包括纳米颗粒形态、化学成分和结构信息(大小、形状、分布),从而能够回答更多研究问题并最终提高产品质量。

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应用中的自动化颗粒工作流程

 

APW 提供了利用 STEM 和 EDS 轻松、自动且无人值守地分析样品所需的所有必要的软件和硬件,为您提供了所需的具有科学意义的统计数据。APW 包含 Talos  TEM  或 Spectra (S)TEM 的计算机升级版、采集软件(适用于 (S)TEM 和 EDS 的 Thermo Scientific Maps 3 软件,需由 Thermo Scientific Velox 软件启用)、专用数据处理计算机上的处理软件(Thermo Scientific Avizo2D 软件)以及采集和处理软件之间的网桥。


相关资源

High resolution APW

High resolution APW

应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


技术

使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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样品


纳米粒

在纳米技术领域,材料的性质与宏观技术领域中有本质的不同。为了研究它们,S/TEM仪器可以与能量色散X射线光谱仪结合使用,以获得纳米、甚至亚纳米级的分辨率数据。

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催化研究

催化剂对于大多数现代工业工艺至关重要。其效率取决于催化颗粒的微观组成和形态;EDS电镜是研究这些性质的理想选择。

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金属研究

金属的有效生产需要精确控制夹杂物和沉淀物。我们的自动化工具能够执行金属分析需要的各种任务,包括纳米粒计数、EDS元素分析TEM样品制备

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产品

仪器卡片原件样式表

Spectra Ultra

  • 适用于大多数电子束敏感材料的新成像和光谱分析功能
  • 利用 Ultra-X 进行 EDX 检测的飞跃
  • 色谱柱旨在保持样品完整性。

Spectra 200

  • 用于 30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像
  • 宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜
  • 60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率

Spectra 300

  • 获得原子水平的最高分辨率结构和化学信息
  • 30-300 kV 的灵活高张力范围
  • 三个透镜冷凝器系统

Talos F200S TEM

  • 精确的化学成分数据
  • 用于动态显微镜的高性能成像和精确成分分析
  • 配有 Velox 软件、可实现快速、轻松的获取和分析多模态数据

Talos F200X TEM

  • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和精确的EDS
  • 可提供高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
  • 可提供具有终极清洁度的柱内Super-X G2 EDS

Talos F200i TEM

  • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和灵活的EDS
  • 可使用高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
  • 可提供双EDS,以获得最高的分析产量

Avizo 软件
材料科学

  • 支持多数据/多视图、多通道、时间序列、超大数据
  • 先进的多模式 2D/3D 自动配准
  • 伪影消除算法

Maps 软件

  • 获得大面积的高分辨率图像
  • 轻松发现感兴趣区
  • 自动化图像采集过程
  • 关联不同来源的数据

Velox

  • 处理窗口左侧的实验面板。
  • 活细胞定量分析
  • 交互式探测器布局界面用于可重复的实验控制和设置

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