透射电子显微镜

适用于广泛行业与学科的透射电镜成像与分析

透射电子显微技术（TEM）是一种高分辨率成像技术，其原理是让电子束穿透薄样品以形成图像。电子束会受到样品厚度/密度、组成以及在某些情况下晶体结构的影响。透过样品的电子随后在所得图像中形成对比，从而揭示高分辨率的组成信息。

透射电子显微镜（TEM）能够以几乎无与伦比的分辨率获取数据，这是由于所传输电子的波长非常短。不同于扫描电子显微镜（SEM）在扫描各点收集二次电子总强度，TEM 的分辨率仅受单个电子波长和电子光学质量的限制。这意味着透射电子显微镜能够常规获取亚纳米分辨率，甚至原子分辨率的图像。