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具有先进自动化技术的多功能 FIB-SEM可实现高通量数据采集功能

Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM 是一种先进的超高分辨率分析型聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)。它擅长为各种样品（包括磁性和非导电材料）提供出色的样品制备和 3D 表征。 Scios 3 FIB-SEM采用创新性设计，显著提升通量性能、可靠性及易用性，是为科学家和工程师在不同环境中进行前沿研究与分析的理想解决方案。

Scios 3 FIB-SEM 结合全套自动化软件应用程序，可满足最常见的使用场景。这款用户友好型创新解决方案可显著提高生产效率，对工业界和学术界的用户都具有重要价值。

Scios 3 FIB-SEM 功能特性

自动横截面分析

Scios 3 FIB-SEM 提供了一种横截面自动分析软件，能够通过精确定位实现高质量的次表层表征。可简化工作流程，减少用户干预，并确保在高通量环境中获得一致的高质量结果。

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高通量分析型 3D 表征

Scioss 3 FIB-SEM 配备的 Thermo Scientific Auto Slice & View 5软件，可提供自动化连续切片功能，实现高通量三维分析。无缝集成技术可实现多通道数据采集，包括 SEM 成像、成分、微观结构和晶体学信息。

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自动、高质量、定点的(S)TEM 薄片样品制备

Scios 3 FIB-SEM 能够快速、轻松地制备高质量、定点的(S)TEM薄片样品。结合 Thermo Scientific AutoTEM 5 软件，可实现工作流程完全自动化，从而为各种材料提供高通量、统一的样品制备方法。

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超高分辨率成像

Scios 3 FIB-SEM 采用无场电子光学技术，可对磁性或非导电等具有挑战性的材料进行超高分辨率成像。它提供了清晰、准确的可视化数据，这对于研究和工业应用中的分析检测至关重要。

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用户友好型界面

Scios 3 FIB-SEM配备直观的用户界面，可显著简化操作流程并降低学习门槛。这种设计改进使用户能够快速掌握系统并专注于其研究目标，有效提高生产效率。

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Scios 3 FIB-SEM 相关资料

为了帮助您充分发挥 Scios 3 FIB-SEM的性能优势，我们提供涵盖详细的操作手册、教程指南和支持文档等资料。这些资料旨在帮助您更大限度地发挥系统的功能并实现您的目标。