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电子显微镜利用电子束生成样本图像,可帮助观测从微米级一直到分子和原子尺度的微观结构。 扫描电子显微镜 (SEM)将聚焦电子束在样品表面进行扫描,捕获散射电子,从而呈现样品的表面形貌、衬度差异及成分信息。 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)将聚焦离子束(FIB)系统与 SEM 的功能集成于同一平台,既可对材料进行精密改性,又能实现高分辨率成像。 透射电子显微镜 (TEM)让电子束穿透薄的样品,可以成像观测样品内部组织结构以及原子排列、晶体结构等精细微观特征。
在材料研究中,电子显微镜常用于分析金属、陶瓷、高分子和复合材料的微观结构。 其有助于研究表面和断口的形貌,识别并表征材料内部的缺陷,同时对晶界和界面进行分析。
在生命科学研究中,电子显微镜可帮助科研人员研究蛋白质、生物分子复合物、细胞、组织乃至完整生物体的结构组织,提供跨尺度的详尽洞见,助力对生物复杂性、疾病机制的理解并推动药物研发。
在半导体分析中,电子显微镜是检测复杂半导体器件与架构的关键手段。 其能够分析晶体管及其他设备组件的结构,并识别半导体材料内部的缺陷和杂质。
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.